智能高(gao)低溫冷熱循環交變(bian)沖擊試(shi)驗機供(gong)應商(shang)適用于半(ban)導(dao)體(ti)、電子電器零組件(jian)、化學材料、金屬材料、自動化零部(bu)件(jian)、通訊組件(jian)、國(guo)防(fang)工業(ye)(ye)、航天工業(ye)(ye)、BGA、PCB基板(ban)、電子芯(xin)片IC、及高(gao)分(fen)子材料之(zhi)物理變(bian)化的理想測(ce)試(shi)設備。
更新時間:2024-04-07塑料材(cai)料耐低溫沖擊機供應商適用于半導體(ti)、電子電器零組件、化學材(cai)料、金屬材(cai)料、自(zi)動化零部件、通(tong)訊組件、國防工業、航(hang)天工業、BGA、PCB基(ji)板、電子芯片IC、及高(gao)分子材(cai)料之物(wu)理(li)變化的理(li)想測試設備。
更新時間:2024-04-02研究所常用溫(wen)度沖(chong)擊(ji)試(shi)驗箱(xiang)適(shi)用于半導(dao)體(ti)、電子(zi)電器零組件(jian)(jian)、化(hua)學材(cai)料、金屬材(cai)料、自動化(hua)零部(bu)件(jian)(jian)、通(tong)訊組件(jian)(jian)、國防(fang)工業(ye)、航天工業(ye)、BGA、PCB基板、電子(zi)芯片(pian)IC、及高分子(zi)材(cai)料之物(wu)理(li)變(bian)化(hua)的理(li)想測試(shi)設備。
更新時間:2024-03-26杭州高(gao)(gao)低溫(wen)沖擊試(shi)驗箱銷售公司適用于半導(dao)體(ti)、電(dian)子(zi)電(dian)器零(ling)組件、化(hua)(hua)學材(cai)料、金屬材(cai)料、自(zi)動化(hua)(hua)零(ling)部(bu)件、通訊(xun)組件、國(guo)防工業(ye)、航(hang)天(tian)工業(ye)、BGA、PCB基(ji)板、電(dian)子(zi)芯片IC、及(ji)高(gao)(gao)分子(zi)材(cai)料之物理變(bian)化(hua)(hua)的理想測(ce)試(shi)設備。
更新時間:2024-03-25半導(dao)體芯片行業冷熱沖擊實(shi)驗機適用于半導(dao)體、電子(zi)(zi)電器(qi)零組件、化學材(cai)料、金屬材(cai)料、自動(dong)化零部件、通訊(xun)組件、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子(zi)(zi)芯片IC、及高分子(zi)(zi)材(cai)料之物理變化的(de)理想測試設(she)備。
更新時間:2024-03-25鋰電(dian)(dian)池電(dian)(dian)車(che)電(dian)(dian)池冷熱(re)沖擊實驗(yan)箱適(shi)用于(yu)半導體、電(dian)(dian)子(zi)電(dian)(dian)器零組件(jian)、化(hua)學(xue)材料(liao)、金(jin)屬(shu)材料(liao)、自動化(hua)零部件(jian)、通訊(xun)組件(jian)、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電(dian)(dian)子(zi)芯片IC、及(ji)高分子(zi)材料(liao)之物(wu)理變化(hua)的理想(xiang)測試設備。
更新時間:2024-03-25高低溫沖擊(ji)試驗箱銷(xiao)售公(gong)司(si)適用(yong)于半導體、電子(zi)電器零組(zu)件、化(hua)學材料(liao)、金屬(shu)材料(liao)、自動化(hua)零部件、通訊組(zu)件、國防(fang)工業、航(hang)天(tian)工業、BGA、PCB基板、電子(zi)芯片IC、及高分子(zi)材料(liao)之(zhi)物理變化(hua)的理想(xiang)測試設備。
更新時間:2024-03-22手機電(dian)腦芯片冷熱沖擊實驗箱適用于半導體、電(dian)子(zi)電(dian)器(qi)零組件、化學材料、金(jin)屬材料、自動化零部(bu)件、通訊組件、國(guo)防工(gong)業、航天工(gong)業、BGA、PCB基板、電(dian)子(zi)芯片IC、及高分子(zi)材料之(zhi)物(wu)理(li)變化的理(li)想測試設備。
更新時間:2024-03-22PCB線路板(ban)冷熱沖(chong)擊實驗箱適用(yong)于(yu)半(ban)導(dao)體、電子(zi)(zi)電器零組(zu)件(jian)、化(hua)學(xue)材(cai)料(liao)、金屬材(cai)料(liao)、自動化(hua)零部件(jian)、通訊組(zu)件(jian)、國(guo)防工業、航天工業、BGA、PCB基板(ban)、電子(zi)(zi)芯片IC、及(ji)高分子(zi)(zi)材(cai)料(liao)之物(wu)理(li)變化(hua)的理(li)想測試設備。
更新時間:2024-03-21半導體熱轉(zhuan)印高低溫(wen)冷熱沖擊試(shi)驗機適用于半導體、電子電器(qi)零組件(jian)(jian)、化(hua)學材(cai)料、金(jin)屬(shu)材(cai)料、自動化(hua)零部(bu)件(jian)(jian)、通訊組件(jian)(jian)、國防工(gong)業、航天工(gong)業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材(cai)料之物理(li)變化(hua)的理(li)想測試(shi)設備(bei)。
更新時間:2024-03-19快速溫變(bian)循環沖擊(ji)試驗機用于半導體、電子(zi)電器零(ling)組件、化學材(cai)料、金屬材(cai)料、自動化零(ling)部件、通訊組件、國(guo)防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子(zi)芯片(pian)IC、及高分子(zi)材(cai)料之(zhi)物(wu)理變(bian)化的理想測試設備。
更新時間:2024-03-18實驗室用(yong)冷熱沖擊(ji)試驗機用(yong)于半導體、電子(zi)(zi)電器(qi)零(ling)組(zu)件(jian)、化學(xue)材料、金屬(shu)材料、自(zi)動(dong)化零(ling)部(bu)件(jian)、通訊組(zu)件(jian)、國(guo)防工業、航(hang)天工業、BGA、PCB基板、電子(zi)(zi)芯片IC、及(ji)高分子(zi)(zi)材料之物理變化的理想測(ce)試設備。
更新時間:2024-03-18PCB線路板高低溫沖擊試驗箱適用(yong)于(yu)半導體、電(dian)子(zi)電(dian)器(qi)零組(zu)件、化(hua)(hua)學材料(liao)、金屬材料(liao)、自動(dong)化(hua)(hua)零部件、通訊組(zu)件、國(guo)防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電(dian)子(zi)芯(xin)片IC、及(ji)高分子(zi)材料(liao)之物(wu)理變(bian)化(hua)(hua)的理想測試設備。
更新時間:2024-03-16兩(liang)箱上冷(leng)下熱溫度沖(chong)擊試驗箱適用于半導體、電子電器零組(zu)件(jian)、化(hua)學材(cai)料、金(jin)屬材(cai)料、自動化(hua)零部件(jian)、通訊組(zu)件(jian)、國防工業、航(hang)天工業、BGA、PCB基(ji)板(ban)、電子芯片IC、及(ji)高(gao)分子材(cai)料之(zhi)物(wu)理(li)變化(hua)的理(li)想測試設備(bei)。
更新時間:2024-03-16學校(xiao)用冷熱沖(chong)擊試(shi)驗箱用于半導體、電子電器(qi)零組(zu)件、化學材(cai)料、金(jin)屬(shu)材(cai)料、自動化零部件、通訊組(zu)件、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高(gao)分子材(cai)料之物理(li)變(bian)化的理(li)想測試(shi)設(she)備。
更新時間:2024-03-15上下移(yi)動的(de)溫度沖擊試驗(yan)箱(xiang)適用于半導體(ti)、電子電器零組件(jian)、化(hua)學材料、金屬(shu)材料、自動化(hua)零部件(jian)、通訊組件(jian)、國防工業、航(hang)天工業、BGA、PCB基板(ban)、電子芯片(pian)IC、及高分子材料之物理(li)變(bian)化(hua)的(de)理(li)想測試設備。
更新時間:2024-03-15球墨鑄鐵底(di)溫沖擊實驗裝置適用于半(ban)導(dao)體、電(dian)子電(dian)器零(ling)組(zu)件(jian)、化(hua)學材料、金屬材料、自動化(hua)零(ling)部件(jian)、通訊組(zu)件(jian)、國防工業(ye)、航天工業(ye)、BGA、PCB基板、電(dian)子芯片IC、及高分子材料之(zhi)物理變化(hua)的(de)理想測試設備。
更新時間:2024-03-15高溫冷熱沖擊試驗設備(bei)適用于(yu)半導體、電(dian)子(zi)電(dian)器零組(zu)件(jian)、化學(xue)材料(liao)、金屬材料(liao)、自動(dong)化零部件(jian)、通訊組(zu)件(jian)、國(guo)防工業(ye)、航天工業(ye)、BGA、PCB基板、電(dian)子(zi)芯片IC、及高分(fen)子(zi)材料(liao)之物理(li)變化的(de)理(li)想(xiang)測(ce)試設備(bei)。
更新時間:2024-03-12408L冷熱沖(chong)擊試驗箱適用于半導(dao)體、電(dian)子電(dian)器零組件、化(hua)學材(cai)料(liao)、金屬材(cai)料(liao)、自動化(hua)零部(bu)件、通訊組件、國防(fang)工業、航天工業、BGA、PCB基板、電(dian)子芯(xin)片(pian)IC、及高分子材(cai)料(liao)之(zhi)物(wu)理變化(hua)的理想(xiang)測試設備。
更新時間:2024-03-11sop封裝(zhuang)高低溫沖擊試驗箱適用(yong)于半導體、電子(zi)電器零(ling)組(zu)件(jian)、化學材料、金(jin)屬材料、自動化零(ling)部件(jian)、通訊組(zu)件(jian)、國(guo)防工(gong)業、航天工(gong)業、BGA、PCB基板、電子(zi)芯片IC、及高分子(zi)材料之物(wu)理變(bian)化的理想測試設備。
更新時間:2024-03-11