半導體芯片行業冷熱沖擊實驗機用于(yu)(yu)電子電器零(ling)組(zu)件(jian)、自動化零(ling)部件(jian)、通訊組(zu)件(jian)、汽(qi)車配件(jian)、金屬、塑膠等行業，國防工(gong)業、航天、兵工(gong)業、電子芯(xin)片(pian)IC、 半導(dao)體陶瓷及高分子材(cai)料之物(wu)理性變化,測(ce)試其材(cai)料對高、低溫的(de)(de)(de)反復抵拉力(li)及產品(pin)(pin)于(yu)(yu)熱脹冷(leng)縮產出(chu)的(de)(de)(de)化學變化或物(wu)理傷害，可確認產品(pin)(pin)的(de)(de)(de)品(pin)(pin)質,從精密的(de)(de)(de)IC到重機械的(de)(de)(de)組(zu)件(jian)，無一不需要它的(de)(de)(de)理想測(ce)試工(gong)具(ju)。

工作室尺寸：

規格型號：AP-CJ-50/80/100/150/252/480

容量：50升、80升、100升、150升、252升、480升

內箱(xiang)尺寸（寬*高*深）：400X350X360、500X400X400、500X500X400、600X500X500、700X600X600、800X800X750（MM）

外(wai)形(xing)尺寸（寬*高*深(shen)）：1560X1950X1400、1700X2070X1500、1700X2170X1500、1800X2270X1600、1900X2370X1700、2000X2570X1850（MM）

試驗(yan)溫度(du)范(fan)圍(wei)：A表示：-40℃～+150℃

B表示：-55℃～+150℃

C表示：-65℃～+150℃

低溫(wen)槽溫(wen)度范(fan)圍：-55℃～-10℃、-70℃～-10℃、-80℃～-10℃

高溫槽溫度(du)范圍：+60℃～+200℃，升溫速率平均5℃/MIN

溫度波動(dong)度：±2.0℃

溫度(du)轉換(huan)時間：10S

半導體芯片行業冷熱沖擊實驗機安全裝置:

配有:超溫保護;壓縮(suo)機(ji)超壓;過載(zai);過流保護;風機(ji)過載(zai)保護相序保護,漏(lou)電保護;

電(dian)源:AC380V50Hz

實(shi)(shi)驗(yan)(yan)用低溫(wen)沖擊箱(xiang)|實(shi)(shi)驗(yan)(yan)用高(gao)低溫(wen)沖擊試(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)根據實(shi)(shi)驗(yan)(yan)需求及測試(shi)標準(zhun)分(fen)為三箱(xiang)式(shi)和(he)兩(liang)箱(xiang)式(shi)，區別在于實(shi)(shi)驗(yan)(yan)方(fang)式(shi)和(he)內部結構不(bu)同。三箱(xiang)式(shi)分(fen)為蓄冷室，蓄熱室和(he)實(shi)(shi)驗(yan)(yan)室，產品在測試(shi)時是放(fang)置在實(shi)(shi)驗(yan)(yan)室

特點：采(cai)用(yong)瑞典生產的(de)(de)(de)釬(han)焊(han)板式換(huan)熱(re)(re)(re)器，這種(zhong)換(huan)熱(re)(re)(re)器由(you)若(ruo)干片(pian)壓制(zhi)成(cheng)人(ren)字(zi)型波紋(wen)的(de)(de)(de)耐腐蝕不銹鋼薄片(pian)組(zu)成(cheng)，相(xiang)鄰(lin)的(de)(de)(de)一對(dui)不銹鋼片(pian)波紋(wen)方(fang)向相(xiang)反(fan)，波紋(wen)背線(xian)彼此(ci)相(xiang)交(jiao)構(gou)成(cheng)大量的(de)(de)(de)接觸焊(han)點，由(you)於復(fu)雜的(de)(de)(de)接觸交(jiao)差網路(lu)通道(dao)使兩側流(liu)(liu)體形成(cheng)紊流(liu)(liu)，加大提高(gao)了(le)換(huan)熱(re)(re)(re)強(qiang)度(du)，同時強(qiang)烈的(de)(de)(de)紊流(liu)(liu)和光滑的(de)(de)(de)不銹鋼表面使釬(han)焊(han)板式熱(re)(re)(re)交(jiao)換(huan)的(de)(de)(de)流(liu)(liu)道(dao)內表面不易結垢(gou)，采(cai)用(yong)此(ci)換(huan)熱(re)(re)(re)器后不但(dan)系統(tong)阻(zu)力也降低(di)，而且(qie)克服了(le)以往國(guo)產大型低(di)溫(wen)試驗箱此(ci)部(bu)件的(de)(de)(de)尺寸大、換(huan)熱(re)(re)(re)差、效率低(di)等缺點。