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    3AP-CJ-150C冷熱沖擊循環試驗設備

    冷熱沖擊循(xun)環試驗設備適用于(yu)半導體(ti)、電子(zi)(zi)電器零(ling)組件、化學材料、金屬材料、自(zi)動化零(ling)部件、通訊組件、國(guo)防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子(zi)(zi)芯片IC、及高分(fen)子(zi)(zi)材料之物理(li)(li)變(bian)化的理(li)(li)想(xiang)測試設備。

    更新時間:2024-03-09
    3AP-CJ-150C超快速冷熱沖擊試驗設備

    超(chao)快速冷熱沖擊試(shi)(shi)驗設(she)(she)備適用于半導體、電(dian)子(zi)電(dian)器零組件、化學材(cai)料、金(jin)屬材(cai)料、自動化零部(bu)件、通訊組件、國(guo)防工業(ye)、航天工業(ye)、BGA、PCB基板、電(dian)子(zi)芯片IC、及(ji)高分子(zi)材(cai)料之物理變化的理想測(ce)試(shi)(shi)設(she)(she)備。

    更新時間:2024-03-08
    3AP-CJ-150C超快速冷熱沖擊試驗機

    超快速(su)冷熱沖擊試驗(yan)機適用于(yu)半導體(ti)、電子電器零組(zu)件(jian)、化學(xue)材(cai)料、金屬材(cai)料、自動化零部件(jian)、通訊(xun)組(zu)件(jian)、國防工(gong)業(ye)、航(hang)天工(gong)業(ye)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材(cai)料之(zhi)物理(li)(li)變化的理(li)(li)想(xiang)測(ce)試設備。

    更新時間:2024-03-08
    3AP-CJ-150C高低溫沖擊試驗機器

    高低溫沖(chong)擊(ji)試(shi)(shi)驗機器適(shi)用于半導體、電子電器零組件(jian)、化學材(cai)料(liao)、金屬材(cai)料(liao)、自動化零部件(jian)、通訊組件(jian)、國防工(gong)業、航天工(gong)業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材(cai)料(liao)之物理(li)(li)變化的理(li)(li)想測試(shi)(shi)設備。

    更新時間:2024-03-07
    3AP-CJ-80A節能型冷熱沖擊試驗箱

    節(jie)能(neng)型冷熱(re)沖(chong)擊試(shi)驗箱(xiang)適用于(yu)半導體、電子(zi)電器零組件(jian)、化學材料、金屬材料、自動化零部件(jian)、通訊組件(jian)、國防工業(ye)、航天工業(ye)、BGA、PCB基板、電子(zi)芯片IC、及(ji)高分(fen)子(zi)材料之物(wu)理(li)變化的理(li)想測試(shi)設備(bei)。

    更新時間:2024-03-06
    3AP-CJ-150C冷熱驟變實驗箱

    冷熱驟變實驗箱適用于半導體、電子(zi)電器零組(zu)件(jian)、化學材料(liao)、金屬材料(liao)、自動化零部件(jian)、通訊組(zu)件(jian)、國防工業、航天(tian)工業、BGA、PCB基板、電子(zi)芯片IC、及高分子(zi)材料(liao)之物理變化的(de)理想測試(shi)設備。

    更新時間:2024-03-05
    3AP-CJ-150C杭州冷熱沖擊試驗設備廠家

    杭州冷熱沖擊試驗設備廠(chang)家適用于半導體、電(dian)子電(dian)器零組件(jian)、化(hua)學(xue)材料(liao)、金屬材料(liao)、自動化(hua)零部件(jian)、通訊組件(jian)、國防工(gong)業(ye)、航天工(gong)業(ye)、BGA、PCB基板、電(dian)子芯片IC、及高分子材料(liao)之物理變化(hua)的(de)理想測(ce)試設備。

    更新時間:2024-03-05
    3AP-CJ-150C冷熱沖擊試驗設備品牌廠家

    冷熱沖擊(ji)試(shi)驗設(she)備(bei)品牌廠家適用(yong)于半導體(ti)、電(dian)(dian)子電(dian)(dian)器(qi)零組(zu)件、化(hua)學材(cai)(cai)料、金(jin)屬材(cai)(cai)料、自動化(hua)零部(bu)件、通(tong)訊組(zu)件、國(guo)防工(gong)(gong)業(ye)、航天工(gong)(gong)業(ye)、BGA、PCB基板、電(dian)(dian)子芯片(pian)IC、及高分(fen)子材(cai)(cai)料之物理變化(hua)的理想測試(shi)設(she)備(bei)。

    更新時間:2024-03-04
    3AP-CJ-150C冷熱沖擊試驗設備廠家

    冷熱沖擊試(shi)驗設備(bei)廠(chang)家(jia)適(shi)用于半導體(ti)、電子(zi)(zi)電器零(ling)組件(jian)、化(hua)學材(cai)(cai)料、金屬材(cai)(cai)料、自動化(hua)零(ling)部(bu)件(jian)、通(tong)訊組件(jian)、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子(zi)(zi)芯(xin)片IC、及高分子(zi)(zi)材(cai)(cai)料之物理變化(hua)的理想測試(shi)設備(bei)。

    更新時間:2024-03-04
    3AP-CJ-150C冷熱沖擊試驗儀器廠家

    冷熱沖擊(ji)試(shi)驗儀(yi)器廠家適用于半導體(ti)、電(dian)子(zi)電(dian)器零組件(jian)(jian)、化(hua)學材(cai)料、金屬材(cai)料、自動化(hua)零部(bu)件(jian)(jian)、通訊組件(jian)(jian)、國防工(gong)業(ye)、航天工(gong)業(ye)、BGA、PCB基(ji)板、電(dian)子(zi)芯片IC、及高(gao)分子(zi)材(cai)料之物理(li)變(bian)化(hua)的理(li)想(xiang)測試(shi)設備。

    更新時間:2024-03-02
    3AP-CJ-150C冷熱沖擊試驗箱廠家

    冷熱沖擊試(shi)驗箱(xiang)廠(chang)家適用于半導體、電子(zi)電器零(ling)組(zu)件、化學材料(liao)、金屬材料(liao)、自動化零(ling)部件、通訊組(zu)件、國防(fang)工(gong)業(ye)(ye)、航天工(gong)業(ye)(ye)、BGA、PCB基(ji)板、電子(zi)芯片IC、及(ji)高分子(zi)材料(liao)之物理變化的理想測(ce)試(shi)設備(bei)。

    更新時間:2024-03-01
    3AP-CJ-80A深圳實驗室高低溫沖擊箱

    深圳實驗(yan)室高(gao)低(di)溫沖擊箱適用于(yu)半導體、電(dian)子(zi)電(dian)器零組(zu)件、化(hua)學(xue)材料(liao)、金屬(shu)材料(liao)、自動化(hua)零部件、通訊(xun)組(zu)件、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電(dian)子(zi)芯片(pian)IC、及高(gao)分子(zi)材料(liao)之物(wu)理(li)(li)變(bian)化(hua)的理(li)(li)想(xiang)測試設備。

    更新時間:2024-03-01
    3AP-CJ-80A冷熱沖擊試驗箱廠家直銷

    冷熱沖(chong)擊試(shi)驗箱廠家直銷適用于(yu)半(ban)導(dao)體、電子電器(qi)零組件、化(hua)學材料、金屬(shu)材料、自動化(hua)零部件、通訊(xun)組件、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理(li)變化(hua)的理(li)想測(ce)試(shi)設備(bei)。

    更新時間:2024-03-01
    3AP-CJ-80A北京冷熱沖擊高低溫試驗儀

    北京(jing)冷(leng)熱沖擊(ji)高低溫(wen)試驗儀(yi)適用于(yu)半導(dao)體、電子電器零組件、化學材料(liao)、金(jin)屬(shu)材料(liao)、自動化零部件、通訊組件、國防(fang)工業、航(hang)天工業、BGA、PCB基板、電子芯(xin)片IC、及高分子材料(liao)之物理變化的理想測試設備。

    更新時間:2024-02-29
    3AP-CJ-80A半導體冷熱沖擊高低溫試驗儀

    半導體冷熱(re)沖擊高(gao)低溫試(shi)驗儀適(shi)用于半導體、電(dian)子(zi)電(dian)器零組件、化(hua)學材料、金屬材料、自動化(hua)零部件、通訊(xun)組件、國(guo)防(fang)工業、航天(tian)工業、BGA、PCB基板、電(dian)子(zi)芯(xin)片IC、及高(gao)分子(zi)材料之(zhi)物理變化(hua)的理想測試(shi)設備。

    更新時間:2024-02-28
    3AP-CJ-80A半導體冷熱沖擊高低溫試驗箱

    半(ban)導體(ti)(ti)冷(leng)熱沖擊高低溫試(shi)驗(yan)箱(xiang)適用于半(ban)導體(ti)(ti)、電子電器零(ling)組件(jian)(jian)、化(hua)(hua)學(xue)材(cai)料(liao)(liao)、金屬材(cai)料(liao)(liao)、自(zi)動化(hua)(hua)零(ling)部件(jian)(jian)、通訊組件(jian)(jian)、國防(fang)工(gong)(gong)業(ye)、航天工(gong)(gong)業(ye)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及(ji)高分子材(cai)料(liao)(liao)之物理變化(hua)(hua)的理想測試(shi)設備。

    更新時間:2024-02-27
    3AP-CJ-150C輪胎冷熱沖擊高低溫試驗箱

    輪胎冷(leng)熱沖擊(ji)高低溫試(shi)驗箱適(shi)用(yong)于半導體、電(dian)子電(dian)器零組件(jian)、化(hua)學(xue)材(cai)料(liao)、金屬材(cai)料(liao)、自動化(hua)零部(bu)件(jian)、通訊組件(jian)、國防工業(ye)、航天工業(ye)、BGA、PCB基板、電(dian)子芯片IC、及高分子材(cai)料(liao)之物理變化(hua)的理想測試(shi)設備。

    更新時間:2024-02-27
    3AP-CJ-80A芯片冷熱沖擊高低溫試驗箱

    芯片(pian)冷熱沖擊高(gao)低溫(wen)試驗箱適用(yong)于(yu)半導體、電子電器零組(zu)件、化學材(cai)(cai)料、金(jin)屬材(cai)(cai)料、自動化零部件、通(tong)訊組(zu)件、國防工業(ye)、航天工業(ye)、BGA、PCB基板、電子芯片(pian)IC、及(ji)高(gao)分(fen)子材(cai)(cai)料之物理(li)(li)變(bian)化的理(li)(li)想(xiang)測(ce)試設備。

    更新時間:2024-02-26
    3AP-CJ-80A光伏產業用冷熱沖擊試驗箱

    光伏產業用冷熱沖擊試驗(yan)箱(xiang)適用于(yu)半導體、電(dian)(dian)子(zi)電(dian)(dian)器(qi)零(ling)組(zu)件(jian)、化學材(cai)料、金屬材(cai)料、自(zi)動化零(ling)部(bu)件(jian)、通訊組(zu)件(jian)、國防工(gong)業、航天工(gong)業、BGA、PCB基板、電(dian)(dian)子(zi)芯片IC、及高分子(zi)材(cai)料之物(wu)理(li)變化的理(li)想(xiang)測試設(she)備。

    更新時間:2023-10-07
    3AP-CJ-80A冷熱沖擊和高低溫循環

    冷(leng)熱(re)沖擊和高低溫循(xun)環(huan)適用(yong)于(yu)半導(dao)體、電子(zi)(zi)電器零組件(jian)(jian)(jian)、化(hua)學材料、金屬材料、自動化(hua)零部(bu)件(jian)(jian)(jian)、通訊組件(jian)(jian)(jian)、國(guo)防工(gong)業、航(hang)天(tian)工(gong)業、BGA、PCB基板、電子(zi)(zi)芯(xin)片IC、及高分子(zi)(zi)材料之(zhi)物理(li)變化(hua)的理(li)想(xiang)測試設備。

    更新時間:2023-08-23
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