半導體熱轉印高低溫冷熱沖擊試驗機用于(yu)電(dian)子電(dian)器零組件、自動(dong)化(hua)(hua)(hua)零部件、通(tong)訊組件、汽車(che)配件、金屬、塑膠等行業，國防(fang)工業、航(hang)天、兵工業、電(dian)子芯(xin)片IC、 半(ban)導(dao)體陶瓷及高分子材料(liao)之物(wu)理(li)性變(bian)化(hua)(hua)(hua),測(ce)試其材料(liao)對(dui)高、低溫的(de)反復抵(di)拉(la)力(li)及產品(pin)于(yu)熱脹冷縮產出的(de)化(hua)(hua)(hua)學變(bian)化(hua)(hua)(hua)或物(wu)理(li)傷害，可確認(ren)產品(pin)的(de)品(pin)質,從精密的(de)IC到重機械的(de)組件，無一不(bu)需要它的(de)理(li)想測(ce)試工具。

工作室尺寸：

規(gui)格(ge)型號(hao)：AP-CJ-50/80/100/150/252/480

容量：50升(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)、80升(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)、100升(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)、150升(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)、252升(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)、480升(sheng)(sheng)(sheng)(sheng)

內箱尺寸（寬*高*深）：400X350X360、500X400X400、500X500X400、600X500X500、700X600X600、800X800X750（MM）

外形尺寸（寬*高*深(shen)）：1560X1950X1400、1700X2070X1500、1700X2170X1500、1800X2270X1600、1900X2370X1700、2000X2570X1850（MM）

試(shi)驗溫度范圍：A表示：-40℃～+150℃

B表示：-55℃～+150℃

C表(biao)示(shi)：-65℃～+150℃

低溫槽溫度范圍(wei)：-55℃～-10℃、-70℃～-10℃、-80℃～-10℃

高(gao)溫槽溫度范(fan)圍：+60℃～+200℃，升(sheng)溫速(su)率平(ping)均5℃/MIN

溫度波動度：±2.0℃

溫度轉換時間(jian)：10S

半導體熱轉印高低溫冷熱沖擊試驗機安全裝置:

配有:超溫保(bao)(bao)護;壓(ya)縮機(ji)超壓(ya);過(guo)載;過(guo)流保(bao)(bao)護;風機(ji)過(guo)載保(bao)(bao)護相序保(bao)(bao)護,漏(lou)電保(bao)(bao)護;

電源(yuan):AC380V50Hz

實(shi)驗(yan)用低溫沖擊(ji)箱|實(shi)驗(yan)用高低溫沖擊(ji)試驗(yan)箱根(gen)據實(shi)驗(yan)需求及測試標準分(fen)(fen)為三箱式(shi)和(he)兩箱式(shi)，區別在于實(shi)驗(yan)方式(shi)和(he)內部結(jie)構(gou)不同(tong)。三箱式(shi)分(fen)(fen)為蓄(xu)冷室(shi)(shi)，蓄(xu)熱室(shi)(shi)和(he)實(shi)驗(yan)室(shi)(shi)，產(chan)品在測試時是放置在實(shi)驗(yan)室(shi)(shi)

特(te)點：采用(yong)瑞典生產的釬(han)焊板式換(huan)(huan)熱(re)器(qi)，這(zhe)種換(huan)(huan)熱(re)器(qi)由若干片(pian)壓(ya)制成(cheng)人字型波(bo)紋的耐腐蝕(shi)不(bu)銹(xiu)鋼薄片(pian)組成(cheng)，相(xiang)鄰的一(yi)對不(bu)銹(xiu)鋼片(pian)波(bo)紋方(fang)向相(xiang)反，波(bo)紋背(bei)線彼此相(xiang)交構成(cheng)大(da)量的接觸焊點，由於復(fu)雜的接觸交差網路通道使兩側(ce)流體形成(cheng)紊(wen)流，加大(da)提高了換(huan)(huan)熱(re)強度，同(tong)時強烈的紊(wen)流和光滑的不(bu)銹(xiu)鋼表(biao)面使釬(han)焊板式熱(re)交換(huan)(huan)的流道內表(biao)面不(bu)易結垢(gou)，采用(yong)此換(huan)(huan)熱(re)器(qi)后(hou)不(bu)但系統阻(zu)力也(ye)降低(di)，而且克服了以往國(guo)產大(da)型低(di)溫試驗箱此部件的尺寸大(da)、換(huan)(huan)熱(re)差、效率低(di)等缺(que)點。