光探測器的高低溫檢測設備就(jiu)是模擬真(zhen)實的(de)環境溫(wen)度氣候來給(gei)各類各類電子、光纖(xian)、電工、LED、電器、電池(chi)、電腦、手(shou)機、塑膠等原材料(liao)和器件進行耐(nai)(nai)高溫(wen)、耐(nai)(nai)低溫(wen)、耐(nai)(nai)干(gan)性(xing)(xing)(xing)、耐(nai)(nai)寒性(xing)(xing)(xing)試(shi)驗及品質(zhi)工程的(de)可靠性(xing)(xing)(xing)試(shi)驗。

容積、尺寸和重量

1.內容積1000L

2.內箱尺寸1000*1000*1000mm   (W* H *D)

3. 外型尺寸(約)1280*2050*1900mm   (W* H *D)需注意使用場地、過道以及電梯尺寸能否通過；

光探測器的高低溫檢測設備測試環境條件

A.風(feng)冷型試(shi)驗箱系(xi)在室溫(wen)25℃時且通風(feng)良好條件下所測試(shi)數據;當30℃≥室溫(wen)＞5℃時，

可正常使用，但低(di)溫范圍、降溫速率及熱(re)負(fu)載能力會受環(huan)境溫度變化影(ying)響。

B.相對濕度：≤85%；氣壓：86kPa～106kPa正(zheng)常大氣壓力(li)。

滿足標準

溫度范圍

A:0℃;B:-20℃;C:-40℃;D:-60℃;F:-70℃~+150℃

性能：

溫度(du)控制精度(du)：±0.2℃

溫度均勻度：±2℃

升溫時間 ：平均(jun)每(mei)分鐘(zhong)升溫約3℃；RT~+150℃約40min

降(jiang)溫時間：平均每分(fen)鐘降(jiang)溫約(yue)1℃；

RT~+0℃約(yue)30min；

RT~+－20℃約45min；

RT~+－40℃約65min；

RT~+－70℃約100min；

一、精細美觀：一直(zhi)以來，愛佩(pei)科(ke)技在提升技術的(de)同時，也致力于(yu)設備外觀的(de)美化。除了達到造(zao)型(xing)美觀外，我們更注(zhu)重儀器外表的(de)精細加工。

二、全(quan)面更(geng)新(xin)，技術好：愛佩全(quan)面更(geng)新(xin)換代后的(de)高低(di)溫實驗設備(bei)，大量采(cai)用*際國內新(xin)技術，提(ti)高節能(neng)技術、使設備(bei)在使用時更(geng)加(jia)節能(neng)降低(di)成本。

表的精細加工。

三、科學(xue)合(he)(he)理的(de)(de)結構：愛(ai)佩經過反復的(de)(de)研究(jiu)試驗，設(she)計出科學(xue)合(he)(he)理的(de)(de)風道結構，并應(ying)用(yong)在(zai)高(gao)低(di)溫系列設(she)備中，充分保證了箱(xiang)內溫度(du)均(jun)勻及波動(dong)度(du)小的(de)(de)優(you)勢。

四、可(ke)靠性(xing)高：所有實驗設備的90%主要配置均采用(yong)*際(ji)組裝(zhuang)，保(bao)證整機(ji)的綜合(he)性(xing)能(neng)穩定、壽(shou)命長、可(ke)靠性(xing)高等優勢。

五、高精度(du)控(kong)(kong)制：控(kong)(kong)制器采用韓(han)國、日本(ben)、中國臺灣等微電腦(nao)PID控(kong)(kong)制儀表，全解摸操作、可編著多(duo)個程序(xu)同時工(gong)作，可導出數(shu)據(ju)，控(kong)(kong)制精度(du)高，運行(xing)穩定(ding)可靠。