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電子器件蓄溫冷熱沖擊箱

電子器件蓄溫冷熱沖擊箱

簡要描述:

電(dian)子(zi)器件蓄溫(wen)冷熱沖擊(ji)箱適用于(yu)工業(ye)品的安全性(xing)能(neng)測試提供(gong)可靠性(xing)冷熱沖擊(ji)試驗(yan)、產品經溫(wen)度(du)篩選試驗(yan)等,同時通過(guo)此(ci)設備(bei)的試驗(yan)

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電子器件蓄溫冷熱沖擊箱適用于工業品的安全性能測試提供可靠性冷熱沖擊試驗、產品經溫度篩選試驗等,同時通過此設備的試驗,可提高工業品的性能可靠性和進行工業品的質量控制。工業品是包括眾多工業產品的,如電子元器件、LED、光電、照明、光伏、硅膠、氣配、通訊、家電、玩具、五金、金屬制品(pin)等產品(pin)均(jun)適合購買冷熱(re)沖擊試驗儀器回去做測試、實驗或者試驗。還是(shi)是(shi)高校實驗室、航空、研究(jiu)院、計量單位等領域備的(de)科研設備,試驗(yan)物在(zai)進行冷熱的(de)溫度(du)環境沖(chong)擊變化后的(de)參(can)數及(ji)性能,主要用于考核和(he)確定各種產(chan)品在(zai)惡(e)劣的(de)溫度(du)環境中(zhong)使用的(de)適應(ying)性。

電子器件蓄溫冷熱沖擊箱主要技術指標:

1.內箱尺寸:寬500 mm*高400mm*深400 mm

2. 機器重量:約 1000KG

3.預熱(re)高溫度范圍:+60℃~200℃;

4.儲溫箱升溫時間(jian)約:+60℃~200℃≤30min;

5. 預冷低溫度范圍:-10℃~ -75℃;

6.儲(chu)溫(wen)(wen)箱降(jiang)溫(wen)(wen)時間約:+20℃~-75℃≤40min;(注(zhu):降(jiang)溫(wen)(wen)時間為低溫(wen)(wen)室單獨運轉(zhuan)時的性能(neng))

7.試驗方式:氣動風門切換(huan)2溫區或3溫區;

8.冷熱沖(chong)擊可選溫度(du)范(fan)圍:(高:+65℃~+150℃)/ (低(di)A:-40℃~-10℃;低(di)B:-55℃~-10℃;低(di)C:-65℃~-10℃)

9.溫(wen)度波動度:±0.5℃

10.溫度(du)偏差:±2.0℃

11.溫度(du)恢復時間:3~5min

12.試(shi)(shi)樣(yang)限制:本實驗(yan)(yan)(yan)設備禁止易(yi)燃、爆(bao)炸(zha)、易(yi)揮發性物(wu)質試(shi)(shi)樣(yang)的(de)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)或(huo)儲(chu)存(cun);腐蝕性物(wu)質試(shi)(shi)樣(yang)的(de)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)或(huo)儲(chu)存(cun);生物(wu)試(shi)(shi)樣(yang)的(de)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)或(huo)儲(chu)存(cun);強電磁發射源試(shi)(shi)樣(yang)的(de)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)或(huo)儲(chu)存(cun)。

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