江門冷熱沖擊試驗設備特別適(shi)用于(yu)半導體電子器(qi)件做(zuo)溫(wen)(wen)度(du)破壞測(ce)(ce)試(shi)(shi)，主(zhu)要測(ce)(ce)試(shi)(shi)材(cai)料(liao)結構(gou)在(zai)瞬(shun)間下經溫(wen)(wen)及溫(wen)(wen)的(de)(de)連續沖擊環境下所能忍(ren)受的(de)(de)程度(du)，得以在(zai)Z短(duan)時間內檢測(ce)(ce)試(shi)(shi)樣因熱脹冷(leng)縮所引起的(de)(de)化學變化或物(wu)理傷害。本(ben)試(shi)(shi)驗箱(xiang)根據試(shi)(shi)驗需求及測(ce)(ce)試(shi)(shi)標準(zhun)分(fen)為(wei)三箱(xiang)式(shi)(shi)和兩(liang)箱(xiang)式(shi)(shi)，區別在(zai)于(yu)試(shi)(shi)驗方式(shi)(shi)和內部結構(gou)不同。三箱(xiang)式(shi)(shi)分(fen)為(wei)蓄冷(leng)室，蓄熱室和試(shi)(shi)驗室，產品在(zai)測(ce)(ce)試(shi)(shi)時是放置在(zai)試(shi)(shi)驗室。兩(liang)箱(xiang)式(shi)(shi)分(fen)為(wei)高溫(wen)(wen)室和低(di)溫(wen)(wen)室，是通過電機帶動提(ti)籃運動來實現高低(di)溫(wen)(wen)的(de)(de)切換，產品放在(zai)提(ti)籃里，是隨提(ti)籃起移(yi)動的(de)(de)。
技術(shu)參數(shu)：
規格(ge)型號：AP-CJ-50/80/100/150/252/480
容量：50升、80升、100升、150升、252升、480升
內箱尺寸（寬(kuan)*高*深）：400X350X360、500X400X400、500X500X400、600X500X500、700X600X600、800X800X750（MM）
外(wai)形尺寸（寬*高*深(shen)）：1560X1950X1400、1700X2070X1500、1700X2170X1500、1800X2270X1600、1900X2370X1700、2000X2570X1850（MM）
試驗溫度范圍：
A表示：-40℃～+150℃
B表示：-55℃～+150℃
C表(biao)示：-65℃～+150℃
低溫槽溫度(du)范圍：-55℃～-10℃、-70℃～-10℃、-80℃～-10℃
高溫(wen)槽溫(wen)度(du)范圍(wei)：+60℃～+200℃，升(sheng)溫(wen)速率平均(jun)5℃/MIN
溫度(du)波動度(du)：±2.0℃
溫度轉換(huan)時間：10S
溫度(du)(du)穩定時間(jian)：5MIN，常(chang)溫～低溫度(du)(du)5MIN，常(chang)溫～高溫度(du)(du)5MIN
內箱材質：SUS304不銹鋼
外(wai)箱材質：SUS201紗面不銹鋼(gang)或(huo)電解鋼(gang)板噴(pen)塑處理
江門冷熱沖擊試驗設備標(biao)準:
1、GB/T2423.1-1989低溫試驗方法；
2、2GB/T2423.2-1989高溫試驗方法；
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗；
4、GJB150.5-86溫度沖擊試驗；
5、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗。
6、GJB360.7-87溫度沖(chong)擊(ji)試驗；
7、SJ/T10187-91Y73系列(lie)溫度變化試驗箱——箱式
8、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化(hua)試驗(yan)箱(xiang)——二箱(xiang)式(shi)
9、滿(man)足標準IEC68-2-14_試驗方(fang)法N_溫度變化
10、GB/T 2423.22-2002溫(wen)度變化
11、GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度(du)變化(hua)試驗導(dao)則
12、QC/T17-92汽車(che)零部件耐候性試驗般(ban)規則
13、EIA 364-32熱沖擊(溫度循(xun)環(huan))測試程序的(de)電(dian)連接器(qi)和插座的(de)環(huan)境影響(xiang)評估
特點
三(san)箱(xiang)設備區(qu)(qu)分(fen)為：低溫(wen)區(qu)(qu)、測(ce)高溫(wen)區(qu)(qu)、試區(qu)(qu)三(san)部分(fen)，測(ce)試產(chan)品(pin)置于(yu)測(ce)試區(qu)(qu)，沖(chong)(chong)擊時高溫(wen)區(qu)(qu)或低溫(wen)區(qu)(qu)的溫(wen)度(du)沖(chong)(chong)入測(ce)試區(qu)(qu)進行沖(chong)(chong)擊, 測(ce)試產(chan)品(pin)為靜態式。
進口采用(yong)觸控(kong)式圖控(kong)操(cao)作界面，操(cao)作筒(tong)易(yi)。
沖擊(ji)方式(shi)應(ying)用風路(lu)切(qie)換方式(shi)將溫度(du)導入測試區，做冷熱(re)沖擊(ji)測試。
系統(tong)可作自動循環衙擎或手動選(xuan)擇性沖(chong)擊并可設(she)定(ding)二(er)區或三區沖(chong)擊及冷沖(chong)熱沖(chong)啟始。
高溫沖擊(ji)(ji)或(huo)低(di)溫沖擊(ji)(ji)時，Z大時間可(ke)達999H，Z大循環周期可(ke)達9999次。
冷(leng)(leng)卻采(cai)復疊式(shi)(shi)(shi)二(er)元冷(leng)(leng)凍系統，降溫效(xiao)果快(kuai)速，冷(leng)(leng)卻方式(shi)(shi)(shi)為水冷(leng)(leng)式(shi)(shi)(shi)。
可以試(shi)驗(yan)沖擊(ji)(ji)常溫執行滿足標準(zhun)及試(shi)驗(yan)方(fang)法: GJB150.5 溫度沖擊(ji)(ji)試(shi)驗(yan);GJB360.7溫度沖擊(ji)(ji)試(shi)驗(yan);GB/2423.22 溫度沖擊(ji)(ji)試(shi)驗(yan)。