產品中心

福建非飽和高壓加速老化試驗機
福建非飽和(he)高(gao)壓(ya)加速老化試(shi)驗(yan)(yan)機(ji)用于調查分(fen)析何(he)時出現電子元器件，和(he)機(ji)械零件的(de)摩耗和(he)使(shi)用壽命的(de)問題，使(shi)用壽命的(de)故(gu)障分(fen)布函數呈什么(me)樣的(de)形狀，以(yi)及分(fen)析失(shi)效率(lv)上升的(de)原因所進行的(de)試(shi)驗(yan)(yan)！隨著半導(dao)體可靠(kao)性的(de)提高(gao)半導(dao)體器件能(neng)承受長期的(de)THB試(shi)驗(yan)(yan)而不會產生失(shi)效，因此用來確定成品質量的(de)測(ce)試(shi)時間也相應增加了(le)許多.為了(le)提高(gao)試(shi)驗(yan)(yan)效率(lv)、減(jian)少試(shi)驗(yan)(yan)時間。
更新時間:2024-03-29
HAST高溫高壓加速老化測試機
HAST高(gao)(gao)溫高(gao)(gao)壓加(jia)速(su)老化測試機用于調查分析(xi)何時(shi)出現電(dian)子元器件(jian)，和機械零件(jian)的(de)(de)摩耗和使用壽命(ming)的(de)(de)問題，使用壽命(ming)的(de)(de)故障分布函數呈什么樣的(de)(de)形狀，以及分析(xi)失效率(lv)上升的(de)(de)原(yuan)因所(suo)進行的(de)(de)試驗(yan)(yan)！隨著半(ban)導體可靠性的(de)(de)提高(gao)(gao)半(ban)導體器件(jian)能(neng)承(cheng)受長期的(de)(de)THB試驗(yan)(yan)而不會產生失效，因此用來(lai)確定成品質量的(de)(de)測試時(shi)間也相應增(zeng)加(jia)了許多(duo).為了提高(gao)(gao)試驗(yan)(yan)效率(lv)、減少(shao)試驗(yan)(yan)時(shi)間。
更新時間:2024-03-18
hast非飽和高壓老化試驗箱
hast非(fei)飽和高壓老化試(shi)驗(yan)(yan)箱用于調(diao)查分(fen)析何時出現電子(zi)元器(qi)件(jian)(jian)，和機械零(ling)件(jian)(jian)的(de)摩耗和使(shi)用壽命的(de)問題，使(shi)用壽命的(de)故(gu)障分(fen)布函數呈什么樣的(de)形狀，以及分(fen)析失效(xiao)率(lv)上升的(de)原因(yin)所進行(xing)的(de)試(shi)驗(yan)(yan)！隨著半(ban)導體可靠性的(de)提高半(ban)導體器(qi)件(jian)(jian)能(neng)承(cheng)受長期(qi)的(de)THB試(shi)驗(yan)(yan)而(er)不(bu)會產生(sheng)失效(xiao)，因(yin)此用來確定成品質量的(de)測試(shi)時間也相應(ying)增(zeng)加了許多(duo).為了提高試(shi)驗(yan)(yan)效(xiao)率(lv)、減(jian)少試(shi)驗(yan)(yan)時間。
更新時間:2024-03-12
hast非飽和高壓加速老化試驗箱
hast非飽和(he)高壓加速老化試(shi)驗(yan)箱(xiang)用于調查分(fen)析何時出現電子元(yuan)器件，和(he)機械零件的摩耗和(he)使(shi)用壽命的問(wen)題，使(shi)用壽命的故障(zhang)分(fen)布函數呈什么樣的形(xing)狀，以(yi)及分(fen)析失效(xiao)率上升的原因所進行的試(shi)驗(yan)！隨著半(ban)導體(ti)可靠性的提(ti)高半(ban)導體(ti)器件能承受(shou)長期(qi)的THB試(shi)驗(yan)而不會產生失效(xiao)，因此(ci)用來(lai)確定成(cheng)品(pin)質(zhi)量的測試(shi)時間也相應增(zeng)加了許(xu)多.為了提(ti)高試(shi)驗(yan)效(xiao)率、減少試(shi)驗(yan)時間。
更新時間:2024-03-11
非飽和高壓加速老化試驗箱
非(fei)飽和(he)高壓(ya)加(jia)速老化試(shi)驗箱用(yong)(yong)于(yu)調查分(fen)析何時出現電子元器件(jian)，和(he)機械零件(jian)的(de)(de)摩耗和(he)使用(yong)(yong)壽(shou)命(ming)的(de)(de)問題，使用(yong)(yong)壽(shou)命(ming)的(de)(de)故障分(fen)布函(han)數呈什么樣的(de)(de)形狀(zhuang)，以及(ji)分(fen)析失效(xiao)率上升的(de)(de)原因(yin)所進行的(de)(de)試(shi)驗！隨著半導(dao)體(ti)可靠(kao)性的(de)(de)提高半導(dao)體(ti)器件(jian)能承受長期(qi)的(de)(de)THB試(shi)驗而(er)不會產生失效(xiao)，因(yin)此(ci)用(yong)(yong)來確(que)定(ding)成品質(zhi)量的(de)(de)測試(shi)時間(jian)也相(xiang)應增加(jia)了許多.為了提高試(shi)驗效(xiao)率、減少試(shi)驗時間(jian)。
更新時間:2024-03-09
可程式高壓加速老化試驗機
可程式高壓(ya)加速老化試驗(yan)(yan)機用于調查分(fen)析(xi)何時(shi)出現電(dian)子元器件(jian)，和(he)機械零件(jian)的(de)摩耗和(he)使用壽(shou)命的(de)問題，使用壽(shou)命的(de)故障分(fen)布函數(shu)呈什么樣的(de)形狀，以(yi)及(ji)分(fen)析(xi)失效率上升的(de)原(yuan)因所(suo)進行的(de)試驗(yan)(yan)！隨著(zhu)半(ban)(ban)導體可靠性(xing)的(de)提高半(ban)(ban)導體器件(jian)能承受長期的(de)THB試驗(yan)(yan)而(er)不會產生失效，因此用來確定成品質量的(de)測(ce)試時(shi)間也相應增加了許多.為(wei)了提高試驗(yan)(yan)效率、減少試驗(yan)(yan)時(shi)間。
更新時間:2024-03-07
hast高壓加速老化試驗機
hast高壓加速老化試(shi)驗(yan)機用于調查(cha)分析(xi)何時(shi)出(chu)現電子元器件，和機械零件的(de)(de)(de)(de)摩耗和使用壽命的(de)(de)(de)(de)問題，使用壽命的(de)(de)(de)(de)故障分布函(han)數呈什么(me)樣的(de)(de)(de)(de)形狀(zhuang)，以(yi)及分析(xi)失(shi)效(xiao)率上升的(de)(de)(de)(de)原因(yin)所進(jin)行的(de)(de)(de)(de)試(shi)驗(yan)！隨(sui)著半(ban)導(dao)體可(ke)靠(kao)性的(de)(de)(de)(de)提高半(ban)導(dao)體器件能承(cheng)受長期的(de)(de)(de)(de)THB試(shi)驗(yan)而不(bu)會產生失(shi)效(xiao)，因(yin)此用來確定成品(pin)質量的(de)(de)(de)(de)測試(shi)時(shi)間(jian)也相(xiang)應(ying)增加了許多.為了提高試(shi)驗(yan)效(xiao)率、減(jian)少試(shi)驗(yan)時(shi)間(jian)。
更新時間:2024-03-05
PCT高壓加速老化試驗設備
PCT高(gao)(gao)壓加(jia)速(su)老化試(shi)驗(yan)(yan)設備用(yong)于調查分析何(he)時(shi)出現(xian)電子元器(qi)件(jian)，和機械零件(jian)的(de)摩耗和使用(yong)壽命的(de)問題，使用(yong)壽命的(de)故障分布(bu)函數呈什么樣的(de)形(xing)狀(zhuang)，以及分析失效率(lv)上升的(de)原因所進行的(de)試(shi)驗(yan)(yan)！隨著半(ban)導體(ti)可靠性(xing)的(de)提高(gao)(gao)半(ban)導體(ti)器(qi)件(jian)能承受長期的(de)THB試(shi)驗(yan)(yan)而不會產生(sheng)失效，因此用(yong)來確定成(cheng)品質(zhi)量的(de)測試(shi)時(shi)間也相應增加(jia)了(le)許多.為了(le)提高(gao)(gao)試(shi)驗(yan)(yan)效率(lv)、減少試(shi)驗(yan)(yan)時(shi)間。
更新時間:2024-03-05
PCT老化試驗箱
PCT老化試驗(yan)(yan)箱(xiang)用于(yu)調查分(fen)析何(he)時(shi)出現電(dian)子元(yuan)器件，和機械(xie)零(ling)件的(de)(de)(de)摩耗和使(shi)(shi)用壽命(ming)的(de)(de)(de)問題(ti)，使(shi)(shi)用壽命(ming)的(de)(de)(de)故障分(fen)布函數呈什(shen)么樣的(de)(de)(de)形狀，以(yi)及(ji)分(fen)析失效率(lv)上升的(de)(de)(de)原因所進(jin)行的(de)(de)(de)試驗(yan)(yan)！隨著(zhu)半導體(ti)可靠性的(de)(de)(de)提(ti)高半導體(ti)器件能承受長期的(de)(de)(de)THB試驗(yan)(yan)而不會產生失效，因此用來確定成(cheng)品質量(liang)的(de)(de)(de)測(ce)試時(shi)間也(ye)相(xiang)應增加了許多.為了提(ti)高試驗(yan)(yan)效率(lv)、減少試驗(yan)(yan)時(shi)間。
更新時間:2024-03-04
非飽和高壓加速老化試驗機
非(fei)飽和高壓加速老化試(shi)(shi)驗(yan)(yan)機用于(yu)調(diao)查分(fen)析何時(shi)出現電子元器(qi)件(jian)，和機械零件(jian)的(de)(de)摩耗和使(shi)用壽命的(de)(de)問題(ti)，使(shi)用壽命的(de)(de)故(gu)障分(fen)布函數呈什(shen)么樣(yang)的(de)(de)形狀，以(yi)及(ji)分(fen)析失效率上升的(de)(de)原因所進行的(de)(de)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)！隨(sui)著(zhu)半(ban)導(dao)體可靠性的(de)(de)提(ti)高半(ban)導(dao)體器(qi)件(jian)能承受長期的(de)(de)THB試(shi)(shi)驗(yan)(yan)而不會(hui)產(chan)生(sheng)失效，因此用來確定成品質量的(de)(de)測試(shi)(shi)時(shi)間也相應(ying)增加了(le)許(xu)多.為了(le)提(ti)高試(shi)(shi)驗(yan)(yan)效率、減少試(shi)(shi)驗(yan)(yan)時(shi)間。
更新時間:2024-03-04
高壓加速老化試驗機
高壓加速老化試(shi)驗(yan)(yan)機用(yong)(yong)于調(diao)查分(fen)析何(he)時出現電子元(yuan)器件(jian)，和機械零件(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)摩(mo)耗和使(shi)用(yong)(yong)壽命(ming)的(de)(de)(de)(de)(de)問題，使(shi)用(yong)(yong)壽命(ming)的(de)(de)(de)(de)(de)故障分(fen)布(bu)函(han)數呈(cheng)什么(me)樣的(de)(de)(de)(de)(de)形狀，以及分(fen)析失效(xiao)率(lv)上升的(de)(de)(de)(de)(de)原因(yin)所進(jin)行的(de)(de)(de)(de)(de)試(shi)驗(yan)(yan)！隨著半導(dao)體可靠性(xing)的(de)(de)(de)(de)(de)提(ti)高半導(dao)體器件(jian)能(neng)承受長期(qi)的(de)(de)(de)(de)(de)THB試(shi)驗(yan)(yan)而不會(hui)產生失效(xiao)，因(yin)此(ci)用(yong)(yong)來確定成品質(zhi)量(liang)的(de)(de)(de)(de)(de)測(ce)試(shi)時間(jian)也相應增加了(le)許(xu)多(duo).為了(le)提(ti)高試(shi)驗(yan)(yan)效(xiao)率(lv)、減少試(shi)驗(yan)(yan)時間(jian)。
更新時間:2024-03-04