小規格尺(chi)寸的(de)高(gao)(gao)(gao)(gao)低溫(wen)(wen)(wen)測(ce)(ce)試(shi)設(she)備叫高(gao)(gao)(gao)(gao)低溫(wen)(wen)(wen)測(ce)(ce)試(shi)實驗儀(yi)或者高(gao)(gao)(gao)(gao)低溫(wen)(wen)(wen)測(ce)(ce)試(shi)試(shi)驗箱,大尺(chi)寸容積的(de)高(gao)(gao)(gao)(gao)低溫(wen)(wen)(wen)測(ce)(ce)試(shi)設(she)備則被稱為高(gao)(gao)(gao)(gao)低溫(wen)(wen)(wen)測(ce)(ce)試(shi)實驗室(shi),它們之(zhi)間除了尺(chi)寸、容積大小不樣以外其(qi)它功能(neng)、工作原理、滿足的(de)標準均樣。高(gao)(gao)(gao)(gao)低溫(wen)(wen)(wen)測(ce)(ce)試(shi)實驗儀(yi)|高(gao)(gao)(gao)(gao)低溫(wen)(wen)(wen)測(ce)(ce)試(shi)試(shi)驗箱|高(gao)(gao)(gao)(gao)低溫(wen)(wen)(wen)測(ce)(ce)試(shi)實驗室(shi)設(she)備主要是(shi)給企業實驗室(shi)、研發部、計量院、檢測(ce)(ce)單位、高(gao)(gao)(gao)(gao)校(xiao)實驗室(shi)、家單位等(deng)做高(gao)(gao)(gao)(gao)低溫(wen)(wen)(wen)可靠性試(shi)驗。
小規格(ge)尺寸(cun)的高(gao)(gao)低(di)(di)溫測試(shi)設(she)備(bei)(bei)叫高(gao)(gao)低(di)(di)溫測試(shi)實(shi)驗(yan)儀或者高(gao)(gao)低(di)(di)溫測試(shi)試(shi)驗(yan)箱,大尺寸(cun)容(rong)積(ji)的高(gao)(gao)低(di)(di)溫測試(shi)設(she)備(bei)(bei)則(ze)被稱為高(gao)(gao)低(di)(di)溫測試(shi)實(shi)驗(yan)室,它們之間除了尺寸(cun)、容(rong)積(ji)大小不樣(yang)以外其(qi)它功能、工作原理、滿(man)足(zu)的標(biao)準均樣(yang)。此類設(she)備(bei)(bei)主要是給(gei)企業實(shi)驗(yan)室、研發部、計量院(yuan)、檢測單位(wei)、高(gao)(gao)校實(shi)驗(yan)室、單位(wei)等做高(gao)(gao)低(di)(di)溫可靠性(xing)試(shi)驗(yan)。
高(gao)(gao)低溫測(ce)試(shi)(shi)(shi)實(shi)驗儀(yi)|高(gao)(gao)低溫測(ce)試(shi)(shi)(shi)試(shi)(shi)(shi)驗箱|高(gao)(gao)低溫測(ce)試(shi)(shi)(shi)實(shi)驗室技術(shu)簡述:
高低(di)溫(wen)測試實驗儀與高低(di)溫(wen)測試試驗箱采(cai)用板(ban)金焊(han)接成箱體結構。 高低溫測(ce)試(shi)實驗(yan)室則(ze)采用(yong)組合式(shi)庫板,方便搬遷與拆裝(zhuang)。 程(cheng)序(xu)(xu)容量:可編輯(ji)120組(zu)程(cheng)序(xu)(xu)×1200段,每(mei)段可設定時(shi)間0~99小時(shi)59分鐘,段數可任意(yi)分割,程(cheng)序(xu)(xu)可自由相互聯結。 定值條件可設定時間(jian): 0 ~9999小時59分鐘。 循(xun)環(huan)設定(ding):可(ke)(ke)執行(xing)9999×999回次數循(xun)環(huan),且可(ke)(ke)再(zai)切割出5組獨(du)立之部份循(xun)環(huan)。 資(zi)料設(she)定:觸控式對話框設(she)定模式,操(cao)作簡易(yi)明確,內建目錄數據管(guan)理系統。 控制(zhi)方式(shi):先進(jin)斜(xie)率控制(zhi)邏輯,采(cai)智能型(xing)PID+SSR/SCR正逆(ni)雙向(xiang)同步輸出。 曲線繪制:實際運轉(zhuan)溫濕(shi)度曲線記錄、顯示;當(dang)程序設(she)定的溫、濕(shi)度、時間(jian)資料完(wan)成(cheng),可立即轉(zhuan)成(cheng)設(she)定曲線。 時間(jian)(jian)訊號:3組時式控制輸出接口,搭(da)配10種之時間(jian)(jian)控制模式,方便執行(xing)外(wai)部驅動組件啟(qi)/停之時式規畫。 安檢(jian)知:功能之系(xi)統偵測,確保機臺運轉安.并可(ke)自動顯(xian)示故障(zhang)項目。 終了溫度:在完成測試(shi)(shi)時(shi),可(ke)選擇(ze)執(zhi)行返回常溫之狀態,以利(li)測試(shi)(shi)物取出。 外部保護:獨立式超(chao)溫保護裝(zhuang)置,可(ke)設定(ding)受測(ce)對象的(de)溫度上(shang)限保護。 通(tong)信接口:附USB、RS-232及RS-485之標準通信接口裝置。 | ||||||||||||||||||||||||||||||
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高(gao)低溫(wen)測試(shi)(shi)實(shi)驗儀|高(gao)低溫(wen)測試(shi)(shi)試(shi)(shi)驗箱(xiang)|高(gao)低溫(wen)測試(shi)(shi)實(shi)驗室可選項目(option): | ||||||||||||||||||||||||||||||
USB試(shi)驗資料(liao)讀取裝置 溫濕度自動記錄器 內置(zhi)玻璃門或(huo)手操(cao)作(zuo)孔
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具(ju)體規格/SPEC: | ※ 大小設備尺寸可(ke)按客(ke)戶(hu)要(yao)求(qiu)定做,只需個,包您滿意 | |||||||||||||||||||||||||||||
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以上只是高(gao)(gao)低(di)(di)溫(wen)測試實驗(yan)儀|高(gao)(gao)低(di)(di)溫(wen)測試試驗(yan)箱|高(gao)(gao)低(di)(di)溫(wen)測試實驗(yan)室的(de)簡單介紹,更多關于此類試驗設備的(de)技(ji)術方案、參數、指標(biao)、圖片、廠家(jia)信息等(deng)均可東莞市(shi)愛佩試驗設備有限(xian)公司,:,。
此文轉(zhuan)載來(lai)自(zi)//www.apkjgroup。。com/Products/gaodiwenceshishiyanys.html高低(di)溫測(ce)試(shi)實驗儀|高低(di)溫測(ce)試(shi)試(shi)驗箱|高低(di)溫測(ce)試(shi)實驗室.