廈門高低(di)溫快速(su)循環試(shi)驗(yan)箱適用于各種通訊(xun)產(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)、電(dian)子(zi)產(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)、光電(dian)產(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)、安防產(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)、電(dian)子(zi)元氣件等工(gong)業產(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)提供可靠性環境(jing)溫變試(shi)驗(yan)、產(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)應力篩選等試(shi)驗(yan),同時通過此試(shi)驗(yan)箱試(shi)驗(yan)可提高產(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)的可靠性能,針對試(shi)驗(yan)結果(guo)研發新品(pin)(pin)(pin)或進行產(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)質(zhi)量(liang)的控制。
廈門高低溫快速循環試驗箱適用于(yu)各種通(tong)訊(xun)產(chan)品(pin)(pin)(pin)、電子(zi)產(chan)品(pin)(pin)(pin)、光電產(chan)品(pin)(pin)(pin)、安防產(chan)品(pin)(pin)(pin)、電子(zi)元氣件等(deng)工業(ye)產(chan)品(pin)(pin)(pin)提(ti)供可靠性環境溫(wen)變(bian)試驗、產(chan)品(pin)(pin)(pin)應力篩選(xuan)等(deng)試驗,同(tong)時(shi)通(tong)過此試驗箱試驗可提(ti)高產(chan)品(pin)(pin)(pin)的可靠性能,針對試驗結果研(yan)發新品(pin)(pin)(pin)或進(jin)行(xing)產(chan)品(pin)(pin)(pin)質量的控制。
廈門高低溫快速循環試驗箱作室尺寸(寬*高*深)(mm)可選:500*600*500、500*750*600、600*850*800、1000*1000*800、1000*1000*1000;更多非標尺寸可以定制。
快速老化箱溫度范圍(wei)可(ke)選擇(ze):-70℃~+150℃,-60℃~+150℃,-40℃~+150℃,-20℃~+150℃,0℃~+150℃;可(ke)選擇(ze)適(shi)合自己(ji)產品常用的溫度范圍(wei)。升降溫速率也可(ke)根據客戶(hu)的要求(qiu)定(ding)制。
濕(shi)度范(fan)圍:20%~98%;RH相(xiang)對溫(wen)濕(shi)度可(ke)調范(fan)圍請參考溫(wen)濕(shi)度范(fan)圍圖,業務員做的報價方案(an)上有詳(xiang)細參考。
升降溫(wen)速率:1℃~15℃/min的(de)中間任意一個指標都可以根據客(ke)戶要求的(de)定(ding)制,性線非線性可定(ding);
溫度波動度:±0.5℃滿足國(guo)家標準、行業標準、國(guo)際標準等;
溫(wen)度偏差(cha):±2℃滿足(zu)國家標(biao)準、行(xing)業標(biao)準、國際標(biao)準等;
結構材質(zhi):內箱(xiang):SUS 304#*質(zhi)不(bu)銹鋼,外箱(xiang):*質(zhi)鋼板(ban)烤漆,保溫層:PU發泡+超細玻璃棉;
冷凍系統:水(shui)冷式(shi)歐(ou)美*口全(quan)/半封閉壓(ya)縮機組,散熱(re)片式(shi)蒸發器;
加熱(re)系(xi)統(tong):不銹鋼鰭片式加熱(re)管,加熱(re)空(kong)氣方(fang)式;
保護裝置:過(guo)載保護,壓(ya)縮機過(guo)熱,過(guo)流(liu),超壓(ya),干燒,箱內(nei)超溫報警系統(tong);
標準配置:真空雙(shuang)層觀(guan)察視(shi)(shi)窗,視(shi)(shi)窗燈,測試(shi)孔Φ50*1只,試(shi)料(liao)架2組,超溫保(bao)護器;
功率(KW):視升降(jiang)溫速率及容積而定;
符合標準:
GJB/150.3A-2009 *用裝備實驗(yan)室(shi)環(huan)境試(shi)(shi)驗(yan)方法第3部分:高溫試(shi)(shi)驗(yan)
GJB/150.4A-2009 *用裝備(bei)實(shi)驗室(shi)環境試(shi)驗方法(fa)第(di)4部分(fen):低(di)溫(wen)試(shi)驗
GB/T 5170.1-2008 電(dian)工電(dian)子產品環境試驗(yan)設備(bei)檢驗(yan)方法 總則
GB/T 2423.3-2006 電工電子產品(pin)環境試(shi)(shi)驗 第(di)2部分:試(shi)(shi)驗方法 試(shi)(shi)驗Cab:恒(heng)定濕熱試(shi)(shi)驗
GB/T 2423.4-2008 電工電子產品(pin)環境試(shi)(shi)(shi)驗(yan) 第2部分:試(shi)(shi)(shi)驗(yan)方(fang)法 試(shi)(shi)(shi)驗(yan)Db:交(jiao)變濕熱(12h + 12h循環)
GJB/150.9A-2009 *用裝備實(shi)驗室環境試(shi)驗方法第9部(bu)分:濕熱(re)試(shi)驗
GB/T 2423.1-2008 電(dian)工電(dian)子產品環境試(shi)驗(yan) 第2部(bu)分:試(shi)驗(yan)方法 試(shi)驗(yan)A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chan)品環境試驗 第(di)2部分:試驗方法 試驗B:高(gao)溫
GB/T 2423.22-2008 電(dian)工(gong)電(dian)子產(chan)品(pin)環境(jing)試驗 第2部分(fen):試驗方法(fa)試驗N:溫度變(bian)化
GB/T 10586 -2006 濕熱試(shi)驗(yan)(yan)箱技(ji)術條件;GB/T 10592 -2008 高低溫(wen)試(shi)驗(yan)(yan)箱技(ji)術條件