上海高低溫快速循環試驗箱適(shi)用(yong)于各(ge)種(zhong)通訊(xun)產品、電子(zi)產品、光電產品、安防產品、電子(zi)元(yuan)氣(qi)件(jian)等(deng)工(gong)業產品提供可(ke)靠(kao)(kao)性環境溫變試(shi)(shi)驗、產品應力篩選等(deng)試(shi)(shi)驗，同(tong)時通過此試(shi)(shi)驗箱(xiang)試(shi)(shi)驗可(ke)提高產品的可(ke)靠(kao)(kao)性能，針對試(shi)(shi)驗結果研發新品或進(jin)行產品質量的控(kong)制。

上海高低溫快速循環試驗箱作室尺寸（寬*高*深）(mm)可選：500*600*500、500*750*600、600*850*800、1000*1000*800、1000*1000*1000；更多非標尺寸可以定制。

快速老化(hua)箱溫度范圍可選擇：-70℃~+150℃，-60℃~+150℃，-40℃~+150℃，-20℃~+150℃，0℃~+150℃；可選擇適(shi)合(he)自己產(chan)品常用的溫度范圍。升降(jiang)溫速率(lv)也可根(gen)據客(ke)戶的要求定制。

濕度(du)范圍(wei)：20%~98%；RH相(xiang)對(dui)溫濕度(du)可調范圍(wei)請參考(kao)(kao)溫濕度(du)范圍(wei)圖，業務(wu)員做(zuo)的報價方案(an)上有詳細(xi)參考(kao)(kao)。

升降溫(wen)速率(lv)：1℃~15℃/min的中間任意一個(ge)指標都(dou)可(ke)以根據(ju)客戶(hu)要求的定制(zhi)，性線(xian)非(fei)線(xian)性可(ke)定；

溫度(du)波動度(du)：±0.5℃滿足國(guo)家標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)、行業標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)、國(guo)際(ji)標(biao)準(zhun)(zhun)(zhun)等；

溫度偏差：±2℃滿足國家(jia)標準(zhun)、行業標準(zhun)、國際(ji)標準(zhun)等(deng)；

結(jie)構材(cai)質(zhi)(zhi)：內(nei)箱：SUS 304#*質(zhi)(zhi)不銹鋼，外箱：*質(zhi)(zhi)鋼板烤(kao)漆，保溫層：PU發泡+超細玻璃棉；

冷(leng)(leng)凍系統：水冷(leng)(leng)式(shi)歐(ou)美*口全(quan)/半封閉壓(ya)縮機組，散(san)熱片式(shi)蒸發器；

加(jia)熱(re)系統：不銹鋼鰭片式(shi)加(jia)熱(re)管，加(jia)熱(re)空氣方式(shi)；

保護(hu)裝置：過載保護(hu)，壓(ya)縮機過熱，過流，超(chao)壓(ya)，干燒，箱內超(chao)溫報警(jing)系(xi)統；

標(biao)準配置：真空雙層(ceng)觀察視窗，視窗燈，測試孔Φ50*1只，試料架2組，超(chao)溫保護器；

功(gong)率（KW）：視升(sheng)降溫(wen)速率及容(rong)積而(er)定；

符合標準：

GJB/150.3A-2009  *用裝備實驗室環境試(shi)驗方法第3部分(fen)：高溫試(shi)驗

GJB/150.4A-2009  *用(yong)裝備實驗室環境(jing)試(shi)驗方法第4部分：低(di)溫試(shi)驗

GB/T 5170.1-2008  電工(gong)電子產(chan)品環境試驗設(she)備檢驗方法 總則(ze)

GB/T 2423.3-2006  電工電子(zi)產品環境試(shi)(shi)驗 第2部(bu)分：試(shi)(shi)驗方法 試(shi)(shi)驗Cab：恒(heng)定濕熱試(shi)(shi)驗

GB/T 2423.4-2008  電工電子產品環(huan)境(jing)試(shi)驗(yan) 第2部(bu)分：試(shi)驗(yan)方(fang)法 試(shi)驗(yan)Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huan)）

GJB/150.9A-2009  *用裝備實驗室環境試(shi)驗方法第9部分：濕熱試(shi)驗

GB/T 2423.1-2008  ;電工電子產品環境試(shi)(shi)驗 第(di)2部(bu)分：試(shi)(shi)驗方法 試(shi)(shi)驗A：低溫

GB/T 2423.2-2008  電(dian)工(gong)電(dian)子(zi)產品環境試驗(yan)(yan) 第2部分：試驗(yan)(yan)方法 試驗(yan)(yan)B：高(gao)溫

GB/T 2423.22-2008 電工電子(zi)產品環(huan)境試驗(yan) 第2部分(fen)：試驗(yan)方(fang)法試驗(yan)N：溫度變化

GB/T 10586 -2006  濕熱試驗(yan)箱技(ji)術條(tiao)件；GB/T 10592 -2008  高低溫(wen)試驗(yan)箱技(ji)術條(tiao)件