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高低溫快速循環試驗箱

高低溫快速循環試驗箱

簡要描述:

高低溫快速循環試(shi)驗(yan)箱適(shi)用于各種通訊產(chan)(chan)品、電(dian)子產(chan)(chan)品、光電(dian)產(chan)(chan)品、安防產(chan)(chan)品、電(dian)子元氣件等(deng)(deng)工業產(chan)(chan)品提(ti)供可(ke)(ke)靠性環境溫變試(shi)驗(yan)、產(chan)(chan)品應力(li)篩選(xuan)等(deng)(deng)試(shi)驗(yan),同時通過此試(shi)驗(yan)箱試(shi)驗(yan)可(ke)(ke)提(ti)高產(chan)(chan)品的可(ke)(ke)靠性能(neng),針對試(shi)驗(yan)結(jie)果(guo)研(yan)發新(xin)品或(huo)進行產(chan)(chan)品質量的控制(zhi)。

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免費咨詢(xun):0769-81015056

發郵件給我們:apkjyzq@foxmail.com

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高低溫快速循環試驗箱適(shi)用于各種(zhong)通訊(xun)產(chan)品(pin)、電(dian)子(zi)產(chan)品(pin)、光電(dian)產(chan)品(pin)、安(an)防產(chan)品(pin)、電(dian)子(zi)元氣件等工業產(chan)品(pin)提(ti)供可(ke)靠(kao)性環境溫變試(shi)驗(yan)(yan)、產(chan)品(pin)應力(li)篩選等試(shi)驗(yan)(yan),同時通過此試(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)試(shi)驗(yan)(yan)可(ke)提(ti)高產(chan)品(pin)的可(ke)靠(kao)性能,針對試(shi)驗(yan)(yan)結果研(yan)發新(xin)品(pin)或進(jin)行產(chan)品(pin)質量(liang)的控制。

高低溫快速循環試驗箱作室尺寸(寬*高*深)(mm)可選:500*600*500、500*750*600、600*850*800、1000*1000*800、1000*1000*1000;更多非標尺寸可以定制。

快速老化箱溫(wen)度范(fan)圍(wei)可選擇(ze):-70℃~+150℃,-60℃~+150℃,-40℃~+150℃,-20℃~+150℃,0℃~+150℃;可選擇(ze)適合自己產品(pin)常用的溫(wen)度范(fan)圍(wei)。升(sheng)降溫(wen)速率也可根據客戶的要求定制。

濕(shi)度(du)范(fan)(fan)圍:20%~98%;RH相對溫濕(shi)度(du)可調范(fan)(fan)圍請參考溫濕(shi)度(du)范(fan)(fan)圍圖,業務員做的報價方案上有詳細參考。

升(sheng)降溫速率:1℃~15℃/min的中間任意一個指(zhi)標都可以根(gen)據客戶要求的定制,性(xing)線(xian)非(fei)線(xian)性(xing)可定;

溫度(du)波動(dong)度(du):±0.5℃滿足國(guo)家標(biao)準、行業(ye)標(biao)準、國(guo)際(ji)標(biao)準等;

溫(wen)度偏差:±2℃滿足國家(jia)標(biao)(biao)準(zhun)、行業標(biao)(biao)準(zhun)、國際標(biao)(biao)準(zhun)等(deng);

結構材質(zhi):內(nei)箱:SUS 304#*質(zhi)不銹鋼,外箱:*質(zhi)鋼板烤漆,保溫層:PU發泡+超細玻璃棉;

冷凍系統:水冷式歐美*口全/半封閉壓(ya)縮(suo)機組,散(san)熱片(pian)式蒸發器(qi);

加熱系(xi)統(tong):不銹鋼鰭片式(shi)加熱管,加熱空氣(qi)方(fang)式(shi);

保護(hu)裝置:過載保護(hu),壓(ya)縮機過熱,過流,超壓(ya),干燒,箱內超溫報警(jing)系統;

標準(zhun)配置:真空雙層觀察視窗,視窗燈(deng),測(ce)試(shi)孔Φ50*1只,試(shi)料架2組,超溫(wen)保護器;

功率(lv)(KW):視升降溫(wen)速(su)率(lv)及容積而定;

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符合標準(zhun):

GJB/150.3A-2009  *用裝備實驗室環境試驗方法第(di)3部分:高溫試驗

GJB/150.4A-2009  *用(yong)裝備實驗室環(huan)境試(shi)驗方法第(di)4部分:低溫(wen)試(shi)驗

GB/T 5170.1-2008  電工電子(zi)產品環境試(shi)驗設備(bei)檢驗方法 總則

GB/T 2423.3-2006  電(dian)工電(dian)子產品環境試驗(yan) 第(di)2部(bu)分:試驗(yan)方(fang)法 試驗(yan)Cab:恒定(ding)濕(shi)熱試驗(yan)

GB/T 2423.4-2008  電工電子(zi)產品環境試驗 第(di)2部分:試驗方法 試驗Db:交(jiao)變(bian)濕熱(re)(12h + 12h循環)

GJB/150.9A-2009  *用(yong)裝備實(shi)驗(yan)室環境試驗(yan)方法第(di)9部分:濕熱試驗(yan)

GB/T 2423.1-2008  電工(gong)電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫(wen)

GB/T 2423.2-2008  電工(gong)電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫

GB/T 2423.22-2008 電工電子產品環境(jing)試驗(yan)(yan) 第(di)2部分:試驗(yan)(yan)方(fang)法試驗(yan)(yan)N:溫度(du)變化(hua)

GB/T 10586 -2006  濕熱試驗箱(xiang)技術條件;GB/T 10592 -2008  高低溫試驗箱(xiang)技術條件



地址:東莞市常平鎮萬布路53號千洪產業園 郵箱:apkjyzq@foxmail.com 郵編:523586
備案號: 技術支持:儀表網