恒(heng)定高(gao)低溫(wen)試(shi)(shi)驗(yan)箱適用于各種通訊產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)、電子產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)、光電產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)、安防產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)、電子元氣件等工業(ye)產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)提(ti)供(gong)可靠(kao)性環境溫(wen)變試(shi)(shi)驗(yan)、產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)應力篩選等試(shi)(shi)驗(yan),同時通過此(ci)試(shi)(shi)驗(yan)箱試(shi)(shi)驗(yan)可提(ti)高(gao)產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)的可靠(kao)性能,針對試(shi)(shi)驗(yan)結(jie)果研(yan)發新(xin)品(pin)(pin)或進(jin)行(xing)產(chan)(chan)(chan)品(pin)(pin)質量的控制。
恒定高低溫試驗箱適用于各種通訊產(chan)品、電子產(chan)品、光電產(chan)品、安防產(chan)品、電子元氣(qi)件(jian)等(deng)工業產(chan)品提供(gong)可靠性(xing)環(huan)境(jing)溫變試(shi)驗、產(chan)品應力篩(shai)選等(deng)試(shi)驗,同時通過此(ci)試(shi)驗箱試(shi)驗可提高產(chan)品的(de)可靠性(xing)能,針對試(shi)驗結果研(yan)發新品或進行產(chan)品質量的(de)控(kong)制。
恒定高低溫試驗箱作室尺寸(寬*高*深)(mm)可選:500*600*500、500*750*600、600*850*800、1000*1000*800、1000*1000*1000;更多非標尺寸可以定制。
快(kuai)速(su)老化箱溫(wen)度范(fan)圍可(ke)選擇(ze):-70℃~+150℃,-60℃~+150℃,-40℃~+150℃,-20℃~+150℃,0℃~+150℃;可(ke)選擇(ze)適合自己產品常用的(de)溫(wen)度范(fan)圍。升(sheng)降溫(wen)速(su)率也可(ke)根據客戶的(de)要求定制。
濕度范圍(wei):20%~98%;RH相對溫(wen)濕度可調范圍(wei)請參考(kao)(kao)溫(wen)濕度范圍(wei)圖,業(ye)務員(yuan)做的(de)報價方(fang)案上有詳細參考(kao)(kao)。
升降(jiang)溫速率:1℃~15℃/min的中(zhong)間任(ren)意一個指標都可以根據客戶要求的定(ding)制,性線非線性可定(ding);
溫度波(bo)動度:±0.5℃滿足國家(jia)標準(zhun)、行業標準(zhun)、國際標準(zhun)等;
溫(wen)度偏(pian)差(cha):±2℃滿足(zu)國(guo)家標(biao)準、行業標(biao)準、國(guo)際標(biao)準等(deng);
結構材質(zhi)(zhi)(zhi):內箱:SUS 304#*質(zhi)(zhi)(zhi)不銹鋼(gang),外箱:*質(zhi)(zhi)(zhi)鋼(gang)板烤(kao)漆,保溫層:PU發泡+超細(xi)玻璃棉;
冷(leng)凍(dong)系統:水(shui)冷(leng)式(shi)歐美(mei)*口全/半(ban)封閉壓(ya)縮(suo)機組,散熱片(pian)式(shi)蒸(zheng)發器;
加熱系統:不(bu)銹(xiu)鋼鰭(qi)片式(shi)加熱管,加熱空氣方式(shi);
保(bao)護(hu)(hu)裝置:過載保(bao)護(hu)(hu),壓縮機過熱(re),過流,超(chao)(chao)壓,干燒,箱(xiang)內超(chao)(chao)溫報(bao)警系統(tong);
標(biao)準配置(zhi):真空雙層觀察視(shi)窗,視(shi)窗燈(deng),測試(shi)孔Φ50*1只,試(shi)料架2組,超(chao)溫保護器;
功率(KW):視升降溫速率及容積而定;
符合標準:
GJB/150.3A-2009 *用裝備(bei)實驗室環境試驗方法第3部(bu)分:高溫試驗
GJB/150.4A-2009 *用裝備實驗室環境試(shi)驗方法第(di)4部(bu)分:低(di)溫試(shi)驗
GB/T 5170.1-2008 電(dian)工(gong)電(dian)子產品環境試(shi)驗(yan)設備(bei)檢驗(yan)方法(fa) 總則
GB/T 2423.3-2006 電工(gong)電子產品環境試驗(yan) 第2部分:試驗(yan)方法 試驗(yan)Cab:恒定(ding)濕熱(re)試驗(yan)
GB/T 2423.4-2008 電(dian)工電(dian)子產品環(huan)境試驗(yan)(yan) 第2部分(fen):試驗(yan)(yan)方(fang)法 試驗(yan)(yan)Db:交(jiao)變濕熱(12h + 12h循環(huan))
GJB/150.9A-2009 *用裝備實驗(yan)(yan)室環境試驗(yan)(yan)方法第9部分:濕熱試驗(yan)(yan)
GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環境試驗 第(di)2部分:試驗方(fang)法 試驗A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電(dian)工電(dian)子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高(gao)溫
GB/T 2423.22-2008 電工電子產品環境試驗(yan) 第2部分:試驗(yan)方法試驗(yan)N:溫(wen)度變化
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yan)箱(xiang)技(ji)術條(tiao)件;GB/T 10592 -2008 高(gao)低(di)溫(wen)試驗(yan)箱(xiang)技(ji)術條(tiao)件