恒溫恒濕的高低溫試驗箱適用于各種通(tong)訊產(chan)(chan)(chan)品(pin)、電(dian)(dian)子產(chan)(chan)(chan)品(pin)、光電(dian)(dian)產(chan)(chan)(chan)品(pin)、安防產(chan)(chan)(chan)品(pin)、電(dian)(dian)子元氣件等工業產(chan)(chan)(chan)品(pin)提(ti)(ti)供可靠性環境溫變(bian)試(shi)(shi)驗、產(chan)(chan)(chan)品(pin)應力篩選(xuan)等試(shi)(shi)驗，同時(shi)通(tong)過此試(shi)(shi)驗箱試(shi)(shi)驗可提(ti)(ti)高(gao)產(chan)(chan)(chan)品(pin)的(de)可靠性能，針對(dui)試(shi)(shi)驗結果研發新(xin)品(pin)或進行產(chan)(chan)(chan)品(pin)質量的(de)控(kong)制(zhi)。

恒溫恒濕的高低溫試驗箱作室尺寸（寬*高*深）(mm)可選：500*600*500、500*750*600、600*850*800、1000*1000*800、1000*1000*1000；更多非標尺寸可以定制。

快(kuai)速老化箱溫度范圍可(ke)選(xuan)擇(ze)：-70℃~+150℃，-60℃~+150℃，-40℃~+150℃，-20℃~+150℃，0℃~+150℃；可(ke)選(xuan)擇(ze)適合(he)自己產(chan)品常用(yong)的溫度范圍。升(sheng)降(jiang)溫速率也可(ke)根據客戶(hu)的要(yao)求(qiu)定制。

濕度范圍(wei)：20%~98%；RH相對溫(wen)濕度可調范圍(wei)請(qing)參考溫(wen)濕度范圍(wei)圖，業務員做(zuo)的(de)報價(jia)方案上有(you)詳細參考。

升降(jiang)溫速率：1℃~15℃/min的(de)中間任意一個指(zhi)標都可以根據(ju)客戶要求的(de)定制，性線(xian)非線(xian)性可定；

溫度波(bo)動度：±0.5℃滿(man)足(zu)國家標(biao)準(zhun)、行(xing)業標(biao)準(zhun)、國際標(biao)準(zhun)等；

溫度偏差：±2℃滿足國家標準(zhun)、行業標準(zhun)、國際(ji)標準(zhun)等；

結構材質(zhi)：內(nei)箱(xiang)：SUS 304#*質(zhi)不銹(xiu)鋼，外箱(xiang)：*質(zhi)鋼板烤漆，保(bao)溫層(ceng)：PU發泡+超(chao)細玻璃(li)棉(mian)；

冷凍系統(tong)：水冷式歐美*口全/半(ban)封閉壓縮機(ji)組，散熱(re)片式蒸發器；

加熱(re)系統：不銹(xiu)鋼鰭片式(shi)(shi)加熱(re)管，加熱(re)空氣(qi)方式(shi)(shi)；

保護裝置：過(guo)(guo)載保護，壓縮機過(guo)(guo)熱，過(guo)(guo)流，超壓，干燒(shao)，箱(xiang)內超溫報警系統；

標(biao)準配置：真空雙層(ceng)觀(guan)察視窗(chuang)，視窗(chuang)燈，測試(shi)孔Φ50*1只(zhi)，試(shi)料架2組，超溫保護器(qi)；

功(gong)率（KW）：視升(sheng)降溫速率及容積而定(ding)；

符合標準(zhun)：

GJB/150.3A-2009  *用裝備實驗室環(huan)境(jing)試驗方法第3部(bu)分(fen)：高溫(wen)試驗

GJB/150.4A-2009  *用裝備實驗室環(huan)境試驗方法第4部分：低溫試驗

GB/T 5170.1-2008  電工電子產品環(huan)境試驗設備檢驗方法 總則

GB/T 2423.3-2006  電工電子(zi)產品環境(jing)試(shi)驗 第(di)2部分(fen)：試(shi)驗方(fang)法 試(shi)驗Cab：恒定濕熱試(shi)驗

GB/T 2423.4-2008  電(dian)工(gong)電(dian)子產(chan)品環境試驗(yan)(yan) 第2部分：試驗(yan)(yan)方法 試驗(yan)(yan)Db：交變濕熱（12h + 12h循環）

GJB/150.9A-2009  *用(yong)裝備實(shi)驗(yan)(yan)室(shi)環境試驗(yan)(yan)方法第9部分：濕熱試驗(yan)(yan)

GB/T 2423.1-2008  電工電子產(chan)品環境(jing)試驗(yan) 第2部分：試驗(yan)方(fang)法 試驗(yan)A：低溫

GB/T 2423.2-2008  電工電子(zi)產(chan)品環境試驗(yan)(yan) 第(di)2部(bu)分(fen)：試驗(yan)(yan)方法 試驗(yan)(yan)B：高溫

GB/T 2423.22-2008 電工電子產品環境(jing)試(shi)驗 第2部分：試(shi)驗方法試(shi)驗N：溫度變化

GB/T 10586 -2006  濕(shi)熱(re)試驗(yan)箱(xiang)技術條件；GB/T 10592 -2008  高(gao)低溫試驗(yan)箱(xiang)技術條件