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恒濕恒溫可循環的實驗室
簡要描述：
恒(heng)濕恒(heng)溫(wen)可循(xun)環的實(shi)驗室(shi)是針對所有工業產品包(bao)括(kuo)電(dian)(dian)子產品、電(dian)(dian)源(yuan)電(dian)(dian)池、電(dian)(dian)腦、通訊(xun)、光電(dian)(dian)、LED、主板機(ji)、監(jian)視器、掃描器、生物制藥(yao)、化(hua)工仿(fang)真(zhen)出一種高(gao)溫(wen)惡劣環境測(ce)試的大型試驗設備
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發郵件給我們：apkjyzq@foxmail.com恒濕恒溫可循環的實驗室是針對所有工業產品包(bao)括(kuo)電(dian)(dian)子產品、電(dian)(dian)源電(dian)(dian)池(chi)、電(dian)(dian)腦、通訊、光電(dian)(dian)、LED、主(zhu)板(ban)機、監視(shi)器(qi)、掃描器(qi)、生物制藥、化工仿真出一種高(gao)溫惡劣環境測試的大型試驗設備
恒濕恒溫可循環的實驗室技術參數：
型(xing)號 | AP-KF-040 | AP-KF-080 | AP-KF-120 | AP-KF-160 | AP-KF-250 | AP-KF-340 | ||
標稱內(nei)容積（m3） | 4.2 | 8.1 | 12.5 | 16.8 | 25.8 | 34.8 | ||
性
能 | 溫度(du)范圍 | A：-20~+80℃ | B：-40~+80℃ | C：-60~+80℃ | ||||
濕度范圍(wei) | 30~98%RH | |||||||
溫度波動度 | ±0.5℃ | |||||||
溫(wen)度偏差 | ±2.0℃ | |||||||
濕度偏差 | ±3.0%RH（＞75%RH） ±5.0%RH（≤75%RH） | |||||||
升溫時間 | RT 25℃→+85℃ | |||||||
≤45~80min（視(shi)不(bu)同型號(hao)及配(pei)置(zhi)而不(bu)同） | ||||||||
降溫時間 | +25℃→額定極限低溫(wen) | |||||||
≤30min~180min（視不同型號及配置而不同） | ||||||||
內部尺寸 （mm） | W | 1970 | 1970 | 3020 | 4070 | 3020 | 4070 | |
H | 2100 | 2100 | 2100 | 2100 | 2100 | 2100 | ||
D | 1020 | 1970 | 1970 | 1970 | 4070 | 4070 | ||
符合標準:
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫(wen)試驗方法
GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗
GB/T5170.2-96《溫度試(shi)驗設備》
電工電子(zi)產品基本環境試驗(yan)規程 試驗(yan)A：低溫試驗(yan)方法(fa)GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)
電工電子產品基本環境試驗規程 試驗B：高(gao)溫試驗方(fang)法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)
性能指(zhi)標(biao)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產品(pin)環(huan)境試(shi)驗(yan)設(she)(she)備基本參數(shu)檢定方(fang)法低溫(wen)、高溫(wen)、恒定濕熱、交變濕熱試(shi)驗(yan)設(she)(she)備》的(de)要求(qiu)