半導體器件高低溫測試設備主要用于測試工業產(chan)品(pin)(pin)在恒高溫(wen)，恒低溫(wen)的(de)不(bu)同氣(qi)候環境下(xia)的(de)使(shi)用，運(yun)輸和儲(chu)存時的(de)性(xing)能(neng)試驗(yan)、實驗(yan)，主要用于對(dui)電(dian)工，電(dian)器、電(dian)子、光(guang)電(dian)產(chan)品(pin)(pin)，包括(kuo)所有工業品(pin)(pin)的(de)元(yuan)器件(jian)(jian)，零部件(jian)(jian)，金屬材料及(ji)其(qi)在模擬高溫(wen)，低溫(wen)的(de)不(bu)同氣(qi)候條(tiao)件(jian)(jian)下(xia)，對(dui)產(chan)品(pin)(pin)的(de)物理以及(ji)其(qi)它相關性(xing)能(neng)進行(xing)試驗(yan)，試驗(yan)測試后，通過(guo)檢定(ding)后的(de)成果來(lai)判斷產(chan)品(pin)(pin)的(de)性(xing)能(neng)是否能(neng)夠達(da)到要求或者標準，以便提供產(chan)品(pin)(pin)的(de)改良，設(she)計，生(sheng)產(chan)，檢定(ding)及(ji)出廠檢驗(yan)使(shi)用。

半導體器件高低溫測試設備技術參數：

溫度范圍：0℃、-20℃、-40℃、-60℃、-70℃～+100℃(+150℃)

溫度均(jun)勻度：≤2℃

溫度(du)(du)波動度(du)(du)：≤0.5℃

升溫速率：約3℃/min（非線性(xing) 空載）

降溫速率：約(yue)1℃/min（非(fei)線(xian)性 空載）

內外箱(xiang)材質(zhi)：內箱(xiang)采用304不銹(xiu)(xiu)鋼，外箱(xiang)采用不銹(xiu)(xiu)鋼板或烤漆（客戶可隨意選擇）

延伸(shen)設(she)備：恒溫(wen)(wen)(wen)恒濕試(shi)驗箱(xiang)，快速升降溫(wen)(wen)(wen)濕熱試(shi)驗箱(xiang)，高低溫(wen)(wen)(wen)交變濕熱試(shi)驗箱(xiang)，步入式(shi)恒濕恒溫(wen)(wen)(wen)設(she)備

使用環境溫(wen)度：+5℃～35℃

標準配(pei)置：1、觀察窗2、測試引線孔3、防潮照明燈4、不銹鋼(gang)樣品架(jia)

循環系統：單循環，低噪音離心(xin)風機

安全裝置：漏電斷電保(bao)護(hu)，壓(ya)縮機(ji)超壓(ya)，過熱過流保(bao)護(hu)，過載熔(rong)斷保(bao)護(hu)，風機(ji)過熱保(bao)護(hu)，聲訊報警等。

電源：AC380V或(huo)220V+10% 50Hz