小(xiao)型(xing)恒溫(wen)恒濕(shi)老化試驗(yan)箱采用進(jin)(jin)口可(ke)(ke)編(bian)程控(kong)(kong)(kong)制器：智(zhi)能(neng)型(xing)溫(wen)濕(shi)度可(ke)(ke)程式控(kong)(kong)(kong)制器以(yi)液(ye)晶屏(ping)(ping)方式顯(xian)(xian)示(shi)(shi)溫(wen)濕(shi)度值(zhi)，有加熱器、傳(chuan)感器故障(zhang)指示(shi)(shi)、變送(song)功能(neng)、帶有RS/232或RS/485通訊接口可(ke)(ke)供遠程監控(kong)(kong)(kong)，可(ke)(ke)執(zhi)行(xing)(xing)120PATTEM×99STEP模式執(zhi)行(xing)(xing)，用戶可(ke)(ke)通過觸屏(ping)(ping)編(bian)程自(zi)行(xing)(xing)設定(ding)(ding)系(xi)統(tong)參數。采用高精度的(de)(de)濕(shi)敏(min)電阻為傳(chuan)感器，對(dui)設備的(de)(de)溫(wen)度和濕(shi)度進(jin)(jin)行(xing)(xing)實(shi)時監控(kong)(kong)(kong)并通過負載進(jin)(jin)行(xing)(xing)有效的(de)(de)控(kong)(kong)(kong)制。該儀表(biao)集(ji)測量(liang)、顯(xian)(xian)示(shi)(shi)、控(kong)(kong)(kong)制及通訊于(yu)體(ti)，精度高、測量(liang)范圍寬。7寸彩(cai)色液(ye)晶顯(xian)(xian)示(shi)(shi)屏(ping)(ping)，中英文畫面(mian)選擇觸控(kong)(kong)(kong)式屏(ping)(ping)幕面(mian)板，操作(zuo)簡(jian)單，程序編(bian)輯容易(yi)。120組程序Z大容量(liang)，每組可(ke)(ke)記憶(yi)100段溫(wen)濕(shi)度。可(ke)(ke)顯(xian)(xian)示(shi)(shi)完整的(de)(de)系(xi)統(tong)操作(zuo)狀況、實(shi)時顯(xian)(xian)示(shi)(shi)執(zhi)行(xing)(xing)及設定(ding)(ding)程序曲(qu)線(xian)。具(ju)有多項擴充(chong)功能(neng)，控(kong)(kong)(kong)制器可(ke)(ke)經由RS/232或RS/485接口與計算機聯機，可(ke)(ke)連接打印機打印溫(wen)濕(shi)度曲(qu)線(xian)監控(kong)(kong)(kong)數據。故障(zhang)報(bao)警，并顯(xian)(xian)示(shi)(shi)排除故障(zhang)的(de)(de)方法(fa)。采用先進(jin)(jin)的(de)(de)微(wei)處理器芯片，可(ke)(ke)靠性高，抗(kang)干(gan)擾能(neng)力(li)強(qiang)。

小型(xing)恒溫(wen)恒濕老化試驗箱功能選型(xing)資料：

常(chang)規型號有: AP-HX-80D；AP-HX-100D；AP-HX-150D；AP-HX-225D；AP-HX-408D；AP-HX-800D；AP-HX-1000D

工作室內箱尺寸寬*高(gao)*深（cm）: 40*50*40；50*50*40；50*60*50；50*75*60；60*85*80；100*100*800；100*100*100；

設備(bei)內箱尺寸寬*高*深（cm）約: 98*135*98；105*147*105；108*150*108；107*160*119；120*173*128；156*183*130；157*186*150；

功率: 因為(wei)不(bu)同的尺寸配不(bu)同的溫度范(fan)圍(wei)功率會有(you)所不(bu)同，請根據愛(ai)佩廠家提供(gong)的技(ji)術(shu)規格書上的為(wei)準(zhun)。

溫(wen)度可(ke)選擇(ze)范圍: A:0℃～150℃ B:-20℃～150℃ C:-40℃～150℃ D:-70℃～150℃（每(mei)個尺(chi)寸都可(ke)以配(pei)這(zhe)些溫(wen)度范圍中的其中段(duan)）

均勻度/波動度: ±2℃/±0.5℃

升(sheng)溫速(su)率(lv): 1.0～3.0℃/min

降溫速率(lv): 0.7～1.0℃/min

主(zhu)要控(kong)制器(qi): 進口LED數顯P.I.D + S.S.R.微電腦集成控(kong)制器(qi)(可編程)

精(jing)度(du)(du)(du)范(fan)圍(wei): 設定精(jing)度(du)(du)(du)：溫(wen)度(du)(du)(du)±0.1℃，指(zhi)示精(jing)度(du)(du)(du)：溫(wen)度(du)(du)(du)±0.1℃，解(jie)析度(du)(du)(du)：0.01℃

溫度傳(chuan)感器(qi): 鉑金電阻 PT100Ω/MV

小(xiao)型恒(heng)溫恒(heng)濕老(lao)化(hua)試(shi)驗(yan)箱功能執行標準：

性能指(zhi)標符合(he)GB5170、2、3、5、6-2008 《電(dian)(dian)工電(dian)(dian)子產品環境試(shi)驗(yan)(yan)設備基本參數檢定方法低溫、高溫、恒定濕(shi)熱(re)(re)、交變濕(shi)熱(re)(re)試(shi)驗(yan)(yan)設備》的要求

GJB150.3(ML-STD0-810D)高(gao)溫(wen)試驗(yan)方(fang)法

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試(shi)驗方法(fa)

GJB150.9-1986《軍(jun)用設備環境試驗方法：濕熱試驗》

GJB4.5-1983《船(chuan)舶(bo)電子設備環境(jing)試驗恒(heng)定濕熱(re)試驗》

電工電子(zi)產品基(ji)本環境試驗規(gui)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)

電(dian)工電(dian)子產品基本(ben)環境試驗規程 試驗B：高(gao)溫試驗方(fang)法GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)

電工電子(zi)產品(pin)基本環境試驗規(gui)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-2008（IEC68-2-3）

電工電子產品基本環境試(shi)驗(yan)(yan)規程(cheng) 試(shi)驗(yan)(yan)Da：交變濕熱試(shi)驗(yan)(yan)方(fang)法GB/T423.4-2008(IEC68-2-30)

小型(xing)恒(heng)溫(wen)(wen)恒(heng)濕(shi)(shi)(shi)(shi)老化試驗箱是款專業模擬環境高(gao)(gao)溫(wen)(wen)、低(di)溫(wen)(wen)、濕(shi)(shi)(shi)(shi)度、濕(shi)(shi)(shi)(shi)熱等氣候(hou)做測(ce)試的儀器，常針對工(gong)業產品做測(ce)試。濕(shi)(shi)(shi)(shi)熱氣候(hou)是以濕(shi)(shi)(shi)(shi)度高(gao)(gao)、氣溫(wen)(wen)高(gao)(gao)、雨量大、日溫(wen)(wen)差(cha)小，風或少(shao)風為特(te)點的氣候(hou)。