高低溫老化設備/高低溫濕熱老化試驗箱不再是兩臺分開的試驗箱，目愛佩科技已經有研制出高溫和低溫可以共同做測試的設備，并且已經有批量生產及銷售，市場上公布的簡稱為高低溫試驗箱、高低溫實驗箱、高低溫交變箱、高低溫循環箱等專業名稱。本試驗箱主要可以給各種工業產品或者材料提供單獨高溫、單獨低溫、高低溫交變、高低溫恒定、高低溫循環等模擬不同惡劣的溫度環境做測試、試驗、實驗用，給廣大企業及單位提供環境條件的再現性、可測控性、可重復性、排它性、可靠性試驗。像工業信息、航空航天、電工電子等域都是不必可少的。

高低溫老化設備/高低溫濕熱老化試驗箱般可分為觸摸屏和按鍵式兩種控制操作方式，目液晶觸摸屏應用較多，因為它是可程式可編定多個程式自動運行的，具有強大的網絡、控制網絡功能，即使操作人員不在設備旁邊，也可以在電腦上實時操作、遠程監控，對試驗箱的運行情況了如指掌。

高低溫老化設備/高低溫濕熱老化試驗箱技術特點：

具有寬的(de)高低溫(wen)度控制范圍，還可以增加濕度功能做溫(wen)濕度循環試驗(yan)，可滿足用戶的(de)各種(zhong)需求(qiu)。

采用*的(de)(de)平衡調(diao)溫(wen)調(diao)濕(shi)方式，可(ke)調(diao)節理想的(de)(de)高低溫(wen)環(huan)境試驗。具有平衡式加熱、制冷能力、穩(wen)定、可(ke)進行高精(jing)度、高穩(wen)定的(de)(de)溫(wen)度控制特點(dian)。

高低(di)溫溫度控(kong)制愛佩選用韓進口三元TEMI880觸摸式(shi)智能可(ke)程式(shi)控(kong)制器(qi)(qi)或其他進口供選擇(ze)控(kong)制器(qi)(qi)，如日本或者中臺灣大開面觸摸屏并且控(kong)溫系統可(ke)配制R232、或者USB通(tong)訊接口，便于用戶遠距離程制和快速(su)導出(chu)數(shu)據。顯示(shi)采用數(shu)字式(shi)表示(shi)，直觀(guan)易(yi)讀，目了然(ran)。

制(zhi)(zhi)冷(leng)回(hui)路自動選擇：自控裝置具有隨溫度的設(she)定數(shu)值自動選擇運轉制(zhi)(zhi)冷(leng)回(hui)路的性能(neng)，實現高(gao)溫狀態下直接啟動制(zhi)(zhi)冷(leng)機降溫，制(zhi)(zhi)冷(leng)采用(yong)風冷(leng)式壓縮機組、采用(yong)法泰(tai)康封閉壓縮機（進口）。

大(da)門裝有帶燈觀察窗，可方(fang)便觀察試(shi)樣品的試(shi)驗(yan)狀態(tai)。

TEMI880觸摸式(shi)智能可程(cheng)式(shi)控制器(qi)

默(mo)認中(zhong)文(wen)顯(xian)(xian)(xian)示（中(zhong)英文(wen)可(ke)切換），LCD觸(chu)摸式面板，背光燈17段可(ke)調，曲線顯(xian)(xian)(xian)示，設定值(zhi)/顯(xian)(xian)(xian)示值(zhi)曲線可(ke)分別(bie)顯(xian)(xian)(xian)示多(duo)種報(bao)警(jing)，故障(zhang)發生時(shi)可(ke)通過屏幕(mu)顯(xian)(xian)(xian)示故障(zhang)，消除誤操作。多(duo)組PID控制機能，且以數據形(xing)式顯(xian)(xian)(xian)示于產品(pin)上。

高低溫老化設備/高低溫濕熱老化試驗箱技術參數：

型號：AP-GD-408D

容積(ji)：408升

內箱尺(chi)寸(cun)(cun)：寬600×高(gao)850×深800（mm）；外箱尺(chi)寸(cun)(cun)約：寬1150×高(gao)1850×深1280（mm）

更多容積可選(xuan)擇：80升(sheng)/100升(sheng)/120升(sheng)/150升(sheng)/225升(sheng)/408升(sheng)/800升(sheng)/1000升(sheng)等非標尺寸還可以非標定(ding)制

溫度(du)范圍：-70℃~150℃

更(geng)多溫(wen)度(du)范圍可以(yi)選擇：A：0℃~150℃；B：-20℃~150℃；C：-40℃~150℃；D：-70℃~150℃

溫(wen)度波動度：±0.5℃；溫(wen)度均勻(yun)度≤2.0℃

升溫時間：平均約3.0℃/min（非線(xian)性空載）

降(jiang)溫時(shi)間：平(ping)均(jun)約0.7℃~1.2℃/min非線性空載）

電源(yuan)電壓：AC220V或者AC380V,50Hz（±10%）可選擇(ze)。

滿足標準(zhun)：GB2423.2、GB2423.1《電工電子產(chan)(chan)品環境試(shi)驗試(shi)驗B：高(gao)溫試(shi)驗方(fang)法，試(shi)驗A：低溫試(shi)驗方(fang)法》對產(chan)(chan)品進(jin)行低溫、高(gao)溫試(shi)驗。