電纜高(gao)低(di)溫(wen)老化測試(shi)儀大尺寸容積(ji)的高(gao)低(di)溫(wen)測試(shi)設(she)備則被稱為高(gao)低(di)溫(wen)測試(shi)實驗(yan)室(shi),它(ta)們之間除了尺寸、容積(ji)大小不樣以外其它(ta)功能(neng)、工作原理(li)、滿足的標準均樣。此類設(she)備主要是給(gei)企業實驗(yan)室(shi)、研發(fa)部、計(ji)量院、檢測單位、高(gao)校實驗(yan)室(shi)、家單位等(deng)做高(gao)低(di)溫(wen)可靠性(xing)試(shi)驗(yan)。
高低溫老化試驗箱大(da)尺寸容積(ji)的高(gao)低溫測(ce)試(shi)(shi)設(she)(she)備(bei)則(ze)被稱為高(gao)低溫測(ce)試(shi)(shi)實驗室,它(ta)們之間除(chu)了尺寸、容積(ji)大(da)小(xiao)不樣以(yi)外其它(ta)功(gong)能、工作(zuo)原(yuan)理、滿足的標準均樣。此類(lei)設(she)(she)備(bei)主(zhu)要是給企業實驗室、研發部、計量(liang)院、檢測(ce)單位(wei)、高(gao)校實驗室、單位(wei)等(deng)做高(gao)低溫可靠性(xing)試(shi)(shi)驗。
技術簡述:
采用板金(jin)焊接成箱體結構(gou)。 高低溫(wen)測試實驗室則采用組合式庫板,方便搬(ban)遷與拆裝。 程(cheng)(cheng)序容量:可(ke)編輯120組程(cheng)(cheng)序×1200段,每(mei)段可(ke)設定時間0~99小時59分鐘,段數可(ke)任意(yi)分割(ge),程(cheng)(cheng)序可(ke)自由相互聯(lian)結。 定(ding)值條件可設定(ding)時間: 0 ~9999小時59分鐘。 循(xun)環(huan)設定:可(ke)執(zhi)行9999×999回次數循(xun)環(huan),且可(ke)再切割(ge)出5組獨立之部份(fen)循(xun)環(huan)。 資(zi)料設(she)定(ding):觸控式對話框設(she)定(ding)模式,操作簡易明(ming)確,內建目(mu)錄數據管理系統(tong)。 控(kong)制方(fang)式(shi):先進斜(xie)率控(kong)制邏輯,采智(zhi)能(neng)型PID+SSR/SCR正逆雙(shuang)向同步輸出。 曲線(xian)(xian)繪制(zhi):實際運轉溫(wen)(wen)濕(shi)度曲線(xian)(xian)記(ji)錄(lu)、顯示;當程(cheng)序設定(ding)的溫(wen)(wen)、濕(shi)度、時間資料(liao)完成,可(ke)立即轉成設定(ding)曲線(xian)(xian)。 時間訊號:3組(zu)時式控制輸出接口,搭配10種之(zhi)時間控制模式,方便執(zhi)行(xing)外部驅(qu)動(dong)組(zu)件啟/停之(zhi)時式規畫。 安檢知(zhi):功能之(zhi)系統(tong)偵測,確保機臺運轉安.并可自動(dong)顯示故障項(xiang)目。 終了(le)溫(wen)度(du):在完成測(ce)試時,可選(xuan)擇執行返回常(chang)溫(wen)之狀態(tai),以利測(ce)試物取(qu)出。 外(wai)部保(bao)(bao)護(hu)(hu):獨立式超溫保(bao)(bao)護(hu)(hu)裝(zhuang)置,可設定受測對象的溫度上限(xian)保(bao)(bao)護(hu)(hu)。 通信接口:附USB、RS-232及RS-485之標準通(tong)信接(jie)口裝置。 | ||||||||||||||||||||||||||||||
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高低溫老化試驗箱可選項目(option): | ||||||||||||||||||||||||||||||
USB試驗資料(liao)讀取裝(zhuang)置 溫(wen)濕度(du)自動(dong)記(ji)錄器 內置玻璃門或手操作(zuo)孔(kong)
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具(ju)體規格/SPEC: | ※ 大小設備尺(chi)寸可按客(ke)戶要(yao)求定做,只需(xu)個,包您滿意(yi) | |||||||||||||||||||||||||||||
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